
Profile
Implementation and optimization of the Nanometer Comparator for the one-dimensional Calibration of photo masks, line scales and length measurement systems, like incremental displacement sensors and laser interferometers. The comparator can also be used for fundamental investigations of one-dimensional length measurement systems .
Research/Development
Längenteilungen
Dimensionelle Metrologie mit dem Nanometerkomparator (nmK):
- Hochgenaue Längenmaßweitergabe auf 1D- und 2D-Objekten
- Optimierung der Leistungsfähigkeit des Nanometerkomparators
- Untersuchung von Sensoren (Mikroskope, Abtastköpfe, ...) zur Strukturantastung am Nanometerkomparator
- Erweiterung des Nanometerkomparators um die Fähigkeit Geradheit von Strukturen auf ebenen Substraten entlang der Messachse im Subnanometerbereich messen zu können
Längenmessung in der Mikrosystemtechnik:
- Charakterisierung von Längenmesssystemen der Mikrosystemtechnik über Verschiebewege bis 1 mm
- Zusammenarbeit mit dem Laserzentrum Hannover bei optischen inkrementellen Messsystemen im Rahmen des SFB 516
- Zusammenarbeit mit dem Institut für Mikrotechnik der Uni Hannover bei magnetischen inkrementellen Messsystemen im Rahmen eines DFG geförderten Projektes
Optische Interferometrie:
- Entwicklung eines optischen Interferometers zur rückführbaren Bestimmung der Kristallgitterabstände in Silizium im Rahmen des Avogadro-Projektes der PTB
- Entwicklung der Optik und Elektronik für optische Interferometer für Länge, Winkel und Geradheit.
Winkelteilungen
Entwicklung und Erprobung von Fehlertrennverfahren für Kreisteilungen
- Fehlertrennverfahren auf Basis von Primzahlzerlegung
- Gegenüberstellung von Fehlertrennverfahren
Entwicklung und messtechnische Untersuchung eines Winkelinterferometers
- Vergleichsmessung zwischen dem Winkelinterferometer und dem Winkelkomparator WMT 220 im Reinraumzentrum der PTB
- Aufbau einer neuen Messeinrichtung “Kleine Winkel” auf der Basis dieses Winkelinterferometers zur Kalibrierung von Autokollimatoren, Winkelinterferometern u.a.
Weiterentwicklung und Untersuchung an hochauflösenden Autokollimatoren
- Simulationen des Abbildungsverhaltens von Autokollimationsfernrohren
- Messungen zur Abstands- und Aperturabhängigkeit verschiedener AK-Typen
- Messtechnische Erprobung eines AK mit Phasenmessmarke
Einsatz von Ringlasern in der Metrologie
- Theorie und inertiales Messprinzip von Ringlasern
- Versuchsaufbau und messtechnische Untersuchung eines Ringlasers in der PTB
- Projekt zur Entwicklung eines Metrologie-Ringlasers
Einfluss der Ebenheit von optischen Messflächen auf die Winkelmessung
- Einsatz eines Phasenschiebeinterferometers zur gleichzeitigen Ebenheits- und Winkelmessung an optischen Winkelnormalen
Bestimmung der Abweichung der Orthogonalität von AK-Messachsen
Winkel-Umschlagverfahren mit einem zweiachsigen Piezo-Kippsystem zur Untersuchung von Autokollimatoren
Services
Im Rahmen der gesetzlichen Aufgabe der PTB -Darstellung und Weitergabe der SI Einheiten- bietet die Arbeitsgruppe Längen- und Winkelteilungen als Dienstleitung Möglichkeiten zur Kalibrierung von Maßverkörperungen und Messgeräten zum Messen von Winkeln und Längen (Winkelendmaße, Prismen, 90°-Winkelnormale, Winkelmess- und Indextische, Drehgeber, Optische Teilköpfe, Theodolite, Autokollimatoren, Neigungsmessgeräte, Nanometerkomparator).
Messbereich und Messunsicherheit dieses Leistungsangebots sind im Qualitätsmanagementhandbuch aufgeführt. Auf Seite 7, Positionen 5/0116 bis 5/0126, sind die Werte der Arbeitsgruppe 5.23 zu finden.