31.12.2004
Ein erstes praxisorientiertes Photometrie-Seminar des Fachbereichs „Photometrie und angewandte Radiometrie“, das vom 5. bis 8. Oktober 2004 in Braunschweig stattfand, stieß auf großes Interesse in der Industrie. Der Intensivkurs für die angewandte Photometrie und Farbmesstechnik war der erste seiner Art im deutschen Sprachraum. Das Ziel war es, eine Brücke zwischen der höchst entwickelten Messtechnik in der Photometrie der PTB und der Messtechnik in den Messlaboratorien der Industrie zu schlagen.
Der vier Tage dauernde Kurs für Ingenieure und Wissenschaftler aus der Industrie setzte sich aus einem jeweils zweitägigen Theorie- und Praxisteil zusammen. Für die Laborversuche während des Praxisteils wurden die neuen Einrichtungen der Photometrie im Albert-Einstein-Bau der PTB erstmals messtechnisch eingesetzt und einem externen Fachpublikum vorgestellt.
Der Kurs behandelte mit insgesamt 18 Vorträgen das gesamte Spektrum der PTB-Arbeitsgebiete rund um die Photometrie – von den Grundlagen bis hin zu den messtechnischen Anwendungen und Anforderungen, die an die moderne Photometrie gestellt werden. Hinzu kam die Vermittlung grundlegender Kenntnisse in Messunsicherheit, Qualitätsmanagement und Akkreditierung. Die letzten beiden Themen wurden in enger Zusammenarbeit mit dem Referat für Qualitätsmanagement und dem Deutschen Kalibrierdienst (DKD) behandelt. Aufgrund der guten Zusammenarbeit mit dem amerikanischen Staatsinstitut konnte auch ein führender Mitarbeiter der Photometrie des NIST für das Seminar gewonnen werden.
Die Zahl der Teilnehmer musste wegen der nur begrenzt zur Verfügung stehenden Messplätze von vornherein auf 30 begrenzt werden. Durch die hohe Bewerberzahl war das Seminar allerdings schon kurz nach Ankündigung Mitte des Jahres ausgebucht und es ist daher bereits für Mitte nächsten Jahres eine Wiederholung des Seminars geplant, wofür schon Vormerkungen eingingen.
Die Fotomontage zeigt Einblicke in die Arbeit der Teilnehmer während der verschiedenen Laborversuche. Im Zentrum des Bildes ist die Teilnehmergruppe mit den Vortragenden vor dem Konferenzhotel abgebildet. Das obere Teilbild zeigt den Gastreferenten Yoshi Ohno vom NIST.