Optics

The paper "Preliminary Results of Angle-Resolved BTDF Characterization of Optical Transmissive Diffusers" in: CEUR-Workshop Proceedings, Vol-3271 (2022), written by Jinglin Fu¹, Jeppe Revall Frisvad², Michael Esslinger¹, Tatjana Quast¹ and Alfred Schirmacher¹ was awarded with the Best Student Paper Award during the Colour and Visual Computing Symposium 2022, held 8th - 9th September 2022 in Gjøvik, Norway.

Auf der Jahrestagung der European Optical Society (EOS) vom 12. bis 16. September 2022 in Porto (Portugal) wurde Tim Käseberg, Doktorand an der PTB, mit dem Preis für den besten Studierendenvortrag ausgezeichnet. Mit dem „EOSAM Best Student Oral Presentation Award“ prämiert die EOS Beiträge von Nachwuchswissenschaftler*innen im Bereich Optik. Der Titel des Vortrags lautete: „Nanoform evaluation approach using Mueller matrix microscopy and machine learning concepts“. In seinem Vortrag präsentierte Herr Käseberg Ergebnisse seiner Forschungsarbeiten aus dem Bereich der optischen Nanometrologie. Mithilfe von Müller-Matrix-Ellipsometrie ist es möglich, periodische Nanostrukturen auf ihre Struktureigenschaften zu untersuchen. Einflüsse nicht-periodischer Nanostrukturen gehen in den Messungen allerdings unter. Daher ist für die Untersuchung solcher Strukturen die Müller-Matrix-Mikroskopie von Vorteil. Als Kombination aus Ellipsometrie und...

Im Rahmen des 25. Kongresses der International Commission for Optics (ICO) vom 05. bis 09. September 2022 in Dresden wurde dem PTB-Doktoranden Tim Käseberg von der International Society for Optics and Photonics (SPIE) ein Preis für den besten Studierendenbeitrag verliehen. Mit dem SPIE Best Student Paper Award werden Nachwuchswissenschaftler*innen in den unterschiedlichen Bereichen der optischen Wissenschaften ausgezeichnet. Die Kommission wählte den PTB-Doktoranden für seine Arbeiten im Bereich der optischen Nanometrologie aus. Herr Käseberg präsentierte seine Forschungsarbeiten unter dem Titel „Mueller matrix microscopy with machine learning inspired nanoform evaluation“. Dabei verdeutlichte er die Notwendigkeit von abbildender Ellipsometrie in der Charakterisierung von nicht-periodischen Nanostrukturen und gab einen Ausblick auf mögliche Anwendungen von maschinellem Lernen in der Auswertung ellipsometrischer Messungen.