| Title: |
Density difference measurements on silicon single-chrystals by the temperature of flotation methods |
| Author(s): |
A. Kozdon, H. Wagenbreth and D. Hoburg |
| Year: |
1990 |
| Document number: |
PTB-W-43 |
| Pages: |
46 , 4 Abbildungen, 3 Tabellen |
| Custom: |
DM 19,00 |
| ISBN: |
ISBN 3-89429-041-2 |
| Keywords: |
PTB-W- |
| Abstract: |
Es wurden relative Dichtedifferenzen bis zu 8,8 ppm mit einer Standardabweichung des Mittelwertes von 0,05 bis 0,03 ppm ermittelt. Kleine Dichtedifferenzen durch das Ätzen der Si-Proben und ein Einfluß von selektiver Adsorption auf die scheinbare Probendichte wurden nachgewiesen. |
