PTB-Reports Fertigungsmesstechnik (F)
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Report
Title: |
Interferometer mit wellenlängenmoduliertem Diodenlaser für die Oberflächenmeßtechnik |
Author(s): |
P. Wiese |
Year: |
1997 |
Document number: |
PTB-F-25 |
Pages: |
102 , 77 Abbildungen, 8 Tabellen |
Custom: |
DM 33,50 |
ISBN: |
ISBN 3-89429-822-7 |
Keywords: |
PTB-F- |
Abstract: |
Es wurden zwei Verfahren der Interferenzsignalauswertung untersucht, die auf der Durchstimmbarkeit der Wellenlänge des Diodenlasers basieren. Der erste Ansatz führt zu einem nichtzählenden Interferometer. Im zweiten Ansatz wurde ein zählendes Interferometer realisiert, bei dem die modulierten Interferenzsignale mit Hilfe eines digitalen Signalprozesses direkt im Zeitbereich ausgewertet werden. |
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