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Report
Title: | Bestimmung der Form der Elementarzelle eines hochreinen Silicium-Einkristalls durch genaue Messungen von Netzebenenabständen |
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Author(s): | and |
Year: | 1984 |
Document number: | PTB-APh-21 |
Pages: | 40 S., 8 Abbildungen |
Custom: | DM 16,50 |
Keywords: | PTB-APh- |
Abstract: | Formdaten der Elementarzelle eines Silicium-Einkristalls - Verfahren des Präzisionsvergleiches von Netzebenenabständen - Meßergebnisse - Herstellung der Meßproben-Ermittlung der Verzerrungsparameter. |