Wirtschaft

Die kamerabasierte Nahfeldgoniophotometrie ermöglicht die Bestimmung der Leuchtdichteverteilung von Leuchten und Lampen, wie sie z.B. für die Konstruktion von Reflektoren benötigt wird. Zur Charakterisierung der Genauigkeit dieser komplexen Messtechnik ...

Ein neu aufgebauter Strahlungskomparator erlaubt die Kalibrierung von Strahlungsquellen rückführbar auf die berechenbare Synchrotronstrahlung der Metrology Light Source (MLS) im Spektralbereich von 7 nm bis 400 nm. Da weder die Strahlung des primären Strahlernormals MLS noch der zu ...

Im EMRP Projekt „Frequenznormale für die Industrie“ wurde in Zusammenarbeit mit Kollegen aus dem britischen und italienischen Metrologieinstitut ein kompakter und robuster resonatorstabilisierter Laser aufgebaut, der auch unter nicht-idealen Umgebungsbedingungen relative Frequenzinstabilitäten unter 10^-14 liefern kann.

Um langfristige Änderungen der terrestrischen solaren UV-Strahlung zu quantifizieren, sind rückführbare Messungen der globalen solaren UV-Bestrahlungsstärke mit Unsicherheiten von dauerhaft weniger als 2 % erforderlich. Im Rahmen des kürzlich abgeschlossenen EMRP Projektes, "Traceability for surface spectral solar ultraviolet radiation" konnte unter Federführung der PTB die Rückführung des Referenzspektroradiometersystems QASUME, das europaweit zur Qualitätssicherung der Messnetze für solare UV-Strahlung eingesetzt wird, optimiert werden und die Messunsicherheiten der Kalibrierung verringert werden.

Für Anwendungen in der radiometrischen Rückführung von Fernerkundungssatelliten ergibt sich derzeit eine steigende Nachfrage von kombinierten Messungen in gerichteten diffusen Reflexions- und Transmissionsgeometrien. Mit dem roboterbasierten Gonioreflektometer der PTB wurde die winkelaufgelöste Reflexions-/Transmissionsindikatrix an einer Opalglasscheibe bei Wellenlängen im Bereich zwischen 270 nm und 700 nm durchgeführt. Damit werden jetzt für neuentwickelte Materialien der Mic-Volumenstreuer die Einflüsse der Eingangspolarisation wesentlich reduziert und eine verbesserte metrologische Rückführung ermöglicht. 

Vom 18.-19. September 2014 fand in Berlin Adlershof der von der PTB organisierte 2. International Workshop Scatterometry and Ellipsometry on Structured Surfaces, als Teil des Annual Meeting of the European Optical Society EOSAM2014 statt. Schwerpunktthemen waren Entwicklungen scatterometrischer Verfahren für aktuelle und künftige Anforderungen in der Halbleiterindustrie. Insbesondere wurden Ergebnisse des EMRP-Projektes JRP IND17 'Scatterometry' vorgestellt. 

Die genaue dimensionale Charakterisierung von Gitterstrukturen mit Perioden unter 100 nm sind für die Metrologie eine große Herausforderung. Mit dem Deep-UV-Scatterometer konnten nun erstmals auch solche Gitter mit Linienbreiten von nur noch einem Zehntel der verwendeten Beleuchtungswellenlänge (λ = 266 nm) vermessen werden. 

In einem Projekt mit externen Partnern (ETALON AG und TEM Messtechnik GmbH) ist ein absolut messender Lasertracer entwickelt worden, der mehrere Abstände im Raum nacheinander hochgenau und absolut messen kann. Damit können speziell Subapertur-Interferometer verbessert werden, da jetzt Lage und Verkippung des Sensorkopfes exakt bestimmt werden können. 

Zur Charakterisierung optischer und taktiler Asphären-Messgeräte sind Referenzflächen mit bekannten Eigenschaften notwendig. Spezielle, auf die metrologische Rückführung ausgelegte Asphären und Freiformflächen werden aktuell entwickelt und charakterisiert.

Aufgrund der herausragenden Ergebnisse, die von der PTB im Rahmen des OLED100.eu-Projektes beigesteuert werden konnten und durch die rasante Weiterentwicklung organischer Leuchtdioden (OLED) wurde die PTB für das BMBF-Projekt "OLYMP" mit einer weiterführenden Untersuchung des Alterungsverhaltens von OLEDs beauftragt. Aktuell werden nun OLEDs der 2. Generation untersucht, die über eine Fläche von 144 cm² und eine Lichtausbeute von 40 lm/W bei einer Leuchtdichte von 2000 cd/m² verfügen. Der Messplatz ermöglicht die in-situ-Überwachung sämtlicher für OLEDs relevanten optischen, thermischen und elektrischen Größen. z. B. aktive Steuerung der OLED-Stack-Temperatur, welche bei beschleunigten Alterungsbedingungen eine besondere Relevanz besitzt.