Neue Referenzdaten zur Messung von Elektronenstreuquerschnitten

Die elastischen Elektronenstreuquerschnitte der Edelgase Helium und Argon wurden mit einer neuentwickelten Molekularstrahl-Messmethode absolut gemessen. Mit der neuen Methode können die differentiellen und doppelt-differentiellen Elektronenstreuquerschnitte ohne Kenntnis des Molekularstrahlprofils eines Messgases bestimmt werden. Die genaue Ermittlung von Molekularstrahlprofilen stellte bislang ein ungelöstes Problem in der experimentellen Atom- und Molekülphysik dar. Die Wirkungsquerschnitte wurden für die Primärenergien von 20 eV bis 1 keV im Streuwinkelbereich zwischen 35° und 135° gemessen. Sie sollen zukünftig als Referenzdaten bei der experimentellen Bestimmung der Elektronenquerschnitte anderer Moleküle dienen und sind daher ein wichtiger Bestandteil der Qualitätssicherung für alle weiteren Streuexperimente. Beispielsweise können etwaige Veränderungen in der Nachweiselektronik an Hand der Referenzdaten und durch regelmäßige Vergleichsmessungen überwacht werden. Auf Grund ihrer Vollständigkeit sind die neuen Datensätze von großer praktischer Bedeutung.