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DKD-Richtlinien und Normen

VDI- und DKD-Richtlinien und Normen

 

Um ein einheitliches und vergleichbares Vorgehen in der Oberflächenmesstechnik zu gewährleisten, gibt es zahlreiche Richtlinien und Normen auf diesem Gebiet.
Expertinnen und Experten des Fachbereichs wirken z. T. in führenden Positionen in etlichen Gremien an diesen Dokumenten mit, die gemäß dem messtechnischen Fortschritt und den wachsenden Anwendungsgebieten der Messtechniken weiterentwickelt werden.
Während Normen und Richtlinien für die Profilrauheit bereits seit langem existieren, werden in den letzten Jahren erstmals umfassende Richtlinien- und Normenwerke für die flächige Rauheitsmessung (z. B. mit optischen Verfahren) erarbeitet.
Für die oberflächenanalytischen Verfahren wurden in den letzten 20 Jahren etliche Normen entworfen, die seit etwa 10 Jahren um normative Dokumente aus dem Bereich der Rastersondenmikroskopie ergänzt werden.

Fast alle VDI-Richtlinien und DIN-, CEN- bzw. ISO-Normen sind kostenpflichtig und können in Deutschland über den Beuth-Verlag bezogen werden:
Opens external link in new windowwww.beuth.de

Nicht alle ISO-Normen werden in die deutsche Sprache bzw. in das nationale deutsche Normenwerk übernommen. ISO-Normen lassen sich auf der Webseite der ISO recherchieren und können in der Regel auch direkt von der ISO bezogen werden:
Opens external link in new windowwww.iso.org


Die nachfolgend aufgeführten Opens internal link in current windowDKD-Richtlinien und die Opens internal link in current windowTerminologie-Norm ISO 18115 mit ihren beiden TeileOpens internal link in current window ISO 18115-1 für die oberflächenanalytischen Techniken und Opens internal link in current windowISO 18115-2 für die rastersondenmikroskopischen Techniken sind unter den unten genannten Bedingungen frei einzusehen.

DKD-Richtlinien

 

Richtlinen des Deutschen Kalibrierdienstes für die Rauheitsmessung.

 

deutschsprachig:   

Opens external link in new windowDKD-R 4-2 Blatt 1 "Kalibrieren von Normalen für die Rauheitsmesstechnik"

Opens external link in new windowDKD-R 4-2 Blatt 2 "Kalibrierung des vertikalen Messsystems von Tastschnittgeräten"

Opens external link in new windowDKD-R 4-2 Blatt 3 "Kalibrieren von Geräten und Normalen für die Rauheitsmesstechnik"

Blatt 4 (noch im Aufbau)

englischsprachig: 

DKD-R 4-2 page 1, version 09.2011 "Calibration of standards for roughness measuring technique"

Annex A "Uncertainty of measurement in the calibration of roughness standards"

Annex B "Uncertainty of measurement of the total height of profile of a depth-setting standard"

Annex C "Measurement uncertainty of the total height of profile of a depth-setting standard with the standard deviation of the groove depth as topography term"

Annex D "Uncertainty of measurement of the total height of profile of a depth-setting standard with the range of the groove depth as topography term"

DKD-R 4-2 page 2, version 09.2011 "Calibrartion of the vertical measuring system of stylus instruments"

page 3 (only german at time)

page 4 (in construction)

VDI/VDE 2655 Optische Messtechnik und Mikrotopographien

 

Blatt 1.1 - Kalibrieren von Interferenzmikroskopen und Tiefenseinstellnormalen für die Rauheitsmesstechnik

VDI:Opens external link in new windowhttps://www.vdi.de/technik/fachthemen/mess-und-automatisierungstechnik/fachbereiche/fertigungsmesstechnik/gma-fa-341-oberflaechenmesstechnik-im-mikro-und-nanobereich/

BEUTH: Opens external link in new windowhttp://www.beuth.de/de/technische-regel/vdi-vde-2655-blatt-1-1/105907758?websource=vdin


Blatt 1.2 - Kalibrieren von konfokalen Mikroskopen und Tiefeneinstellnormalen für die rauheitsmesstechnik

VDI:Opens external link in new windowhttps://www.vdi.de/technik/fachthemen/mess-und-automatisierungstechnik/fachbereiche/fertigungsmesstechnik/gma-fa-341-oberflaechenmesstechnik-im-mikro-und-nanobereich/

Beuth: Opens external link in new windowhttp://www.beuth.de/de/technische-regel/vdi-vde-2655-blatt-1-2/129221372?websource=vdin

Beschreibung der wesentlichen Filtermethoden der Normenreihe ISO 16610

In der Rauheitsmesstechnik werden international genormte Verfahren zur Trennung von Form, Welligkeit und Rauheit eingesetzt. Eine detaillierte Beschreibung in englischer Sprache bietet :

Selected Filtration Methods of the Standard ISO 16610 

Terminologie für die Oberflächenanalytik und Rastersondenmikroskopie

 

Etwa 900 Begriffe für die Oberflächenanalytik (engl. surface chemical analysis) und Rastersondenmikroskopie (engl. scanning probe microscopy) sind vom ISO-Ausschuss ISO/TC 201 "Surface Chemical Analysis" in der aktuellen Ausgabe der Normenreihe ISO 18115 aus dem Jahr 2013 definiert worden.

 

Die beiden Teile der Norm ISO 18115 können auf der ISO-Webseite in englischer Sprache eingesehen werden. Es empfiehlt sich, Begriffe und Akronyme zunächst im Index-Dokument zu suchen und dann unter der angegebenen Nummer in der Norm nachzuschlagen.
Zu beachten sind die speziellen Nutzungshinweise (Copyright der ISO) unten*.
 

Alphabetische Verzeichnisse der Begriffe

Index zu Index ISO 18115-1 :2013(E) für die oberflächenanalytischen Techniken

Index zu Index ISO 18115-2 :2013(E) für die rastersondenmikroskopischen Techniken

 

Vollständige Normen

ISO 18115-1 :2013(E) Surface chemical analysis - Vocabulary - Part 1: General terms and terms used in spectroscopy*


ISO 18115-2 :2013(E) Surface chemical analysis — Vocabulary — Part 2: Terms used in scanning-probe microscopy*

 



Der nationale Spiegelausschuss DIN NA 062-08-16 AA "Chemische Oberflächenanalyse und Rastersondenmikroskopie" fertigt derzeit eine Übersetzung in die deutsche Sprache an.

 


* Hinweis der Herausgeber:

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