Der Themenbereich Länge und dimensionelle Metrologie behandelt die sich aus dem gesetzlichen Auftrag gemäß dem Einheiten- und Zeitgesetz, dem Mess- und Eichgesetz und der Europäischen Messgeräterichtlinie (MID) 2004/22/EG zur Darstellung, Bewahrung und Weitergabe der SI-Einheit Länge sowie der daraus abgeleiteten dimensionellen Messgrößen ergebenden Aufgaben:

1. Entwicklung und Bereitstellung frequenzstabilisierter Laser als nationale Normale oder als sekundäre Frequenznormale, die in optischen Interferenzkomparatoren und Interferometern zur Darstellung und Weitergabe der Si-Einheit Länge verwendet werden
2. Weiterentwicklung der interferentiellen Messtechnik zur Darstellung der Länge prismatischer Körper (insbesondere Endmaße) und des Volumens von Kugeln sowie für die geodätische Längenmesstechnik
3. Entwicklung und Anwendung von Messverfahren an Längenteilungen, die zur Weitergabe der Längeneinheit genutzt werden. Charakterisierungen von Gitternormalen, kristallinen Gitterparametern, Strichteilungen und inkrementellen Längenmesssystemen und die Weitergabe von Winkelmessgrößen mittels Winkelteilungen
4. Entwicklung und Anwendung von Messverfahren zur Weitergabe dimensioneller Messgrößen an Oberflächen in verschiedenen Skalenbereichen sowie an Oberflächenschichten
5. Entwicklung und Anwendung von Messverfahren zur Weitergabe dimensioneller Messgrößen an Objekten, Komponenten und Systemen mit Abmessungen ≤ 1mm und oftmals hohen Aspektverhältnissen
6. Entwicklung und Anwendung von Messverfahren zur Weitergabe dimensioneller Messgrößen an makroskopischen Messobjekten mit Abmessungen von Zentimetern bis zu einigen 10 Metern
7. Entwicklung und Anwendung von Verfahren zur rückführbaren Charakterisierung von Materialeigenschaften unter Einsatz dimensioneller Messverfahren.