Aufgaben
Der Themenbereich Länge und dimensionelle Metrologie behandelt die sich aus dem gesetzlichen Auftrag gemäß dem Einheiten- und Zeitgesetz, dem Mess- und Eichgesetz und der Europäischen Messgeräterichtlinie (MID) 2004/22/EG zur Darstellung, Bewahrung und Weitergabe der SI-Einheit Länge sowie der daraus abgeleiteten dimensionellen Messgrößen ergebenden Aufgaben:
- Entwicklung und Bereitstellung frequenzstabilisierter Laser als nationale Normale oder als sekundäre Frequenznormale, die in optischen Interferenzkomparatoren und Interferometern zur Darstellung und Weitergabe der Si-Einheit Länge verwendet werden
- Weiterentwicklung der interferentiellen Messtechnik zur Darstellung der Länge prismatischer Körper (insbesondere Endmaße) und des Volumens von Kugeln sowie für die geodätische Längenmesstechnik
- Entwicklung und Anwendung von Messverfahren an Längenteilungen, die zur Weitergabe der Längeneinheit genutzt werden. Charakterisierungen von Gitternormalen, kristallinen Gitterparametern, Strichteilungen und inkrementellen Längenmesssystemen und die Weitergabe von Winkelmessgrößen mittels Winkelteilungen
- Entwicklung und Anwendung von Messverfahren zur Weitergabe dimensioneller Messgrößen an Oberflächen in verschiedenen Skalenbereichen sowie an Oberflächenschichten
- Entwicklung und Anwendung von Messverfahren zur Weitergabe dimensioneller Messgrößen an Objekten, Komponenten und Systemen mit Abmessungen ≤ 1mm und oftmals hohen Aspektverhältnissen
- Entwicklung und Anwendung von Messverfahren zur Weitergabe dimensioneller Messgrößen an makroskopischen Messobjekten mit Abmessungen von Zentimetern bis zu einigen 10 Metern
- Entwicklung und Anwendung von Verfahren zur rückführbaren Charakterisierung von Materialeigenschaften unter Einsatz dimensioneller Messverfahren.