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Direkteinstieg für Wissenschaftler

Auszeichnungen

PTBnews 3.2022
13.09.2022

Frank Härtig

Vizepräsident der PTB, Frank Härtig

Der Vizepräsident der PTB ist seit dem 1. August Mitglied im Aufsichtsrat der Deutschen Akkreditierungsstelle GmbH (DAkkS), dem Vertreter des Bundes und der Länder angehöre

Richard Lange

Der Wissenschaftler im Fachbereich 4.4 Zeit und Frequenz hat den SAMOP-Dissertationspreis der Deutschen Physikalischen Gesellschaft (DPG) für seine Doktorarbeit mit dem Titel „High-precision frequency comparisons and searches for New Physics with Yb+ optical clocks“ erhalten.

Jens Flügge

Der Leiter des Fachbereichs Dimensionelle Nanometrologie wurde zusammen mit Mitarbeitern des Instituts für Mikroelektronik- und Mechatronik- Systeme Ilmenau im Wettbewerb der Erfindermesse iENA mit einer Bronzemedaille ausgezeichnet. Damit würdigt das PATON-Landespatentzentrum Thüringen an der TU Ilmenau die gemeinsame Entwicklung eines neuen Verfahrens zur präziseren Längenmessung in Hightech- Anwendungen in Form interferometrischer Vermessung nicht-vakuumtauglicher Objekte (S. 7, Technologieangebot 420).

Rudolf Meeß

Der Wissenschaftler im Fachbereich 5.5 Wissenschaftlicher Gerätebau hat den „Outstanding Paper Award for 2021” der Zeitschrift „Measurement Science and Technology” für die Veröffentlichung „Interferometric device for the in-process measurement of diameter variation in the manufacture of ultraprecise spheres” erhalten (siehe Forschungsnachricht auf Seite 3).

Thomas Fedtke

Der Wissenschaftler im Fachbereich 1.6 Schall hat die Rudolf- Martin-Ehrenurkunde des DIN/VDI-Normenausschusses Akustik, Lärmminderung und Schwingungstechnik (NALS) verliehen bekommen.

Andreas Steiger, Matthias Kehrt, Karsten Kuhlmann und Rolf Judascke

Die Mitarbeiter der Abteilungen 7 und 2 erhalten für die Veröffentlichung der Ergebnisse ihrer zweijährigen Zusammenarbeit zum Thema „Linking the power scales of freespace and waveguide-based electromagnetic waves“ den „Andy Chi Best Paper Award“ für die beste Arbeit, die im vergangenen Jahr in den „IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement“ veröffentlicht wurde.