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Technologieangebot |
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| Titel | Monitordetektor für VUV und EUV |
| Erläuterung | Der neuartige Detektor dient dem Strahlungsmonitoring in der EUV-Lithographie mit hoher Präzission. |
| Zusammenfassung | Zur Bestimmung der Intensität von gepulster VUV- oder EUV-Strahlung sind folgende Verfahrensschritte vorgesehen: - Durchstrahlung einer mit Gas bei einem definierten Druck <10-4 hPa gefüllten Wechselwirkungszone in einer definierten Strahlrichtung zur Bildung von Photoelektronen und Photoionen, - Beschleunigung der Photoelektronen und Photoionen in einem definierten Winkel zur Strahlrichtung durch ein elektrisches Feld, - Detektion von Ladung oder Strom der beschleunigten Photoelektronen und/oder Photoionen als Maß für die zu bestimmende Intensität der Strahlung unter Verzicht auf Ladungsvervielfachung. |
| Weitere Informationen |
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| Jahr | 2002 |
| Erfinder | Richter, Mathias Kroth, Udo Gottwald, Alexander Bobashev, Sergey Sorokin, Andrey Shmaenok, Leonid A. Feldhaus, Josef Gerth, Christopher Tiedtke, Kai |
| Verlauf des Patentverfahrens | DE 102 44 303.3 ; 2002-09-23 DE 102 44 303 B4 ; 2004-12-30 |
| IPC-Code | G01J001-042 G01T001-185 G03F |
| PTB-Zeichen | 0041 |
| Verwertungsinfo | LIZENZ VERFÜGBAR |
| Kontakt | Dr. Bernhard Smandek, Tel.: +49 531 592 8303 Fax +49 531 592 69 8303; bernhard.smandek@ptb.de |