Technologieangebot
Titel Überprüfung von Solarzellen zur Qualitätssicherung
Erläuterung Ortsaufgelöste Überprüfung von Halbleitern, insbesondere von Solarzellen zur Qualitätssicherung
Zusammenfassung Verfahren und Vorrichtung zur Lokalisation und Analyse von elektrischen Defekten in photovoltaischen Bauelementen. Das Grundprinzip der Methode besteht in der lokalen Anregung von Photoströmen in einer zu untersuchenden Solarzelle und der zeitlich und örtlich korrelierten Messung der magnetischen Felder dieser Photoströme mit einem Magnetfeldsensor. Wesentliches Element der Vorrichtung ist eine Anordnung von mehreren Lichtquellen zur optischen Anregung und zugehörigen Magnetfeldsensoren. Das Verfahren ist bildgebend, vollständig nichtinvasiv, benötigt keine Präparation der zu untersuchenden Solarzelle und lässt sich in die Produktionsabläufe bei der Herstellung von Solarzellenmodulen integrieren.
Weitere Informationen patent_0102_102005002651B3 download
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Jahr 2005
Erfinder Schurig, Thomas
Jergovic, Michael
Rolle, Siegfried
Ragusch, Denny
Drung, Dietmar
Beyer, Jörn
Verlauf des Patentverfahrens DE 10 2005 002 651.6 ; 2005-01-19
DE 10 2005 002 651 B3 ; 2006-08-24
IPC-Code G01N
PTB-Zeichen 0102
Verwertungsinfo LIZENZ VERFÜGBAR
Kontakt Dr. Bernhard Smandek, Tel.: +49 531 592 8303 Fax +49 531 592 69 8303; bernhard.smandek@ptb.de