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Technologieangebot |
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| Titel | Detektion von Fehlstellen auf elektrisch leitendenden Ebenen |
| Erläuterung | Das Verfahren ermöglicht die Elimination von Feldinhomogenitäten der Testanordnung zur besseren Bestimmung der Abstrahlcharakteristik von Antennen; besonders für Freifeldversuche geeignet. |
| Zusammenfassung | Ein Verfahren zur Detektion von Fehlstellen auf elektrisch leitenden oder dielektrischen Ebenen von Messeinrichtungen zur Messung elektromagnetischer Effekte hat die Schritte: a) Abstrahlen von elektromagnetischen Wellen jeweils einer Schwingungsfrequenz über einen ausgewählten Frequenzbereich mit mindestens einer Antenne, wobei das Energiefeld der Welle parallel zur Ebene mit einem Poyntingvektor oberhalb der Ebene ausgerichtet ist; b) Messen eines komplexen Streuparameters (Reflexions- oder Transmissionsparameters) der mindestens einen Antenne in Abhängigkeit von der jeweiligen Schwingungsfrequenz; c) Transformation der über den Frequenzbereich gemessenen komplexen Streupararneter in den Zeitbereich und d) Ermitteln der Fehlstellen aus dem Streuparemeterverlauf im Frequenz- und/oder Zeitbereich und der Lage der Fehlstellen durch Bestimmung der Laufzeit des Streusignals aus dem Streuparameterverlauf im Zeitbereich. |
| Weitere Informationen |
patent_0085_DE102004037718A1 download patent_0085_DE102004037718 B4 download |
| Jahr | 2004 |
| Erfinder | Schrader, Thorsten Battermann, Sven Garbe, Heyno |
| Verlauf des Patentverfahrens | DE 10 2004 037 718.9 ; 2004-08-04 DE 10 2004 037 718 A1 ; 2006-02-23 DE 10 2004 037 718 B4 ; 2008-04-24 |
| IPC-Code | G01R |
| PTB-Zeichen | 0085 |
| Verwertungsinfo | LIZENZ VERFÜGBAR |
| Kontakt | Dr. Bernhard Smandek, Tel.: +49 531 592 8303 Fax +49 531 592 69 8303; bernhard.smandek@ptb.de |