Technologieangebot
Titel AFM-Scanntisch
Erläuterung Preisgünstiges Design eines AFM-Verschiebetisches für Rasterkraftmiskroskope (AFM); besonders geeignet für Ausbildungszwecke.
Zusammenfassung Die Erfindung betrifft eine Probenpositioniervorrichtung, insbesondere für ein Rastersondenmikroskop, mit einem Probentisch, einem ersten Probentischantrieb, der mit dem Probentisch mechanisch gekoppelt ist, zum Bewegen des Probentischs in eine erste Richtung, einem zweiten Probentischantrieb, der mit dem Probentisch mechanisch gekoppelt ist, zum Bewegen des Probentischs in eine von der ersten Richtung verschiedene zweite Richtung. Erfindungsgemäß ist vorgesehen, dass der erste Probentischantrieb eine erste Tauchspulenanordnung aufweist.
Weitere Informationen patent_0182_DE102008020982 A1 download
Jahr 2007
Erfinder Wolff, Helmut
Verlauf des Patentverfahrens DE 102008 020 982.1 ; 2008-04-25
DE 102008 020 982 A1 ; 2009-10-29
IPC-Code G12B021-020
PTB-Zeichen 0182
Verwertungsinfo LIZENZ VERFÜGBAR
Kontakt Dr. Bernhard Smandek, Tel.: +49 531 592 8303 Fax +49 531 592 69 8303; bernhard.smandek@ptb.de