Technologieangebot
Titel Drehpunkts-Projektor
Erläuterung Messsystem für Oberflächentopografien mit Nanometergenauigkeit. Zur Qualitätsicherung bei planen, sphärischen und asphärischen Oberflächen.
Zusammenfassung Bei einem Verfahren zur Vermessung der Topografie einer Oberfläche eines Messobjekts, bei dem ein Sensorkopf schrittweise zur optischen Abtastung von Messpunkten über die Oberfläche geführt wird und eine Sensoranordnung des Sensorkopfs mit wenigstens einem definierten Mess-Mittelpunkt auf die Oberfläche gerichtet ist, wird eine Erhöhung der Messgenauigkeit dadurch erreicht, dass zur Festlegung des jeweiligen Messpunkts die Oberfläche mit einer Markierung versehen wird, die von der Sensoranordnung erkannt und bezüglich ihrer Position für die Messung berücksichtigt wird. Angegeben ist ferner eine Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens.
Weitere Informationen patent_0132_DE102007010807 B4 download
Jahr 2007
Erfinder Schulz, Michael
Verlauf des Patentverfahrens DE 10 2007 010 807.0 ; 2007-03-02
DE 10 2007 010 807 A1 ; 2008-09-04
DE 10 2007 010 807 B4 ; 2012-11-15
IPC-Code G01B
PTB-Zeichen 0132
Verwertungsinfo LIZENZ VERFÜGBAR
Kontakt Dr. Bernhard Smandek, Tel.: +49 531 592 8303 Fax +49 531 592 69 8303; bernhard.smandek@ptb.de