Technologieangebot
Titel Topografie-Scanner
Erläuterung Erstmalige Bestimmung gekrümmter Oberflächen ohne Kalibirierung und referenzfrei.
Zusammenfassung Die Bestimmung der Topografie von gekrümmten Oberflächen eines sphärisch oder asphärisch gekrümmten Probekörpers gelingt erstmalig referenzfrei und ohne Kalibrierung dadurch, dass die Oberfläche mit einem Abtaststrahl auf in eine Abtastrichtung liegenden Abtastpunkten abgetastet wird und Winkeldifferenzen von an jeweils zwei in Abtastrichtung voneinander beabstandeten Messpunkten reflektierten Messstrahlen gemessen werden und dass für die Messung der Winkeldifferenzen eine relative Ausrichtung zwischen Oberfläche und Abtaststrahl so vorgenommen wird, dass die Oberfläche in einem der Messpunkte der Winkeldifferenzmessung im wesentlichen senkrecht zum Abtaststrahl steht.
Weitere Informationen patent_0012_DE19842190C1 download
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Jahr 1998
Erfinder Schulz, Michael
Weingärtner, Ingolf
Loheide, Stefan
Verlauf des Patentverfahrens DE 198 42 190.7 ; 1998-09-15
DE 198 42 190 C1 ; 2000-03-02
IPC-Code G01B011-030
PTB-Zeichen 0012
Verwertungsinfo LIZENZ VERFÜGBAR
Kontakt Dr. Bernhard Smandek, Tel.: +49 531 592 8303 Fax +49 531 592 69 8303; bernhard.smandek@ptb.de