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Technologieangebot |
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| Titel | Oberflächen-Messgerät |
| Erläuterung | Multisensor Scankopf zur Bestimmung einer Oberflächentopologie im Nanometerbereich. |
| Zusammenfassung | Zur hochgenauen Bestimmung der Topographie einer Oberfläche, bei dem die Oberfläche mittels eines Sensoren zur Bestimmung des Abstandes zur Oberfläche aufweisenden Messkopfes gescannt wird, ist vorgesehen, dass die Oberfläche mit einer Anzahl von n Sensoren gescannt wird, die am Messkopf in einer festen räumlichen Relation zueinander angeordnet sind und dass jeweils für einen Scanschritt aufgenommene Messwerte der Sensoren durch Differenzbildungen zu einem Wert miteinander kombiniert werden und aus den kombinierten Werten die Topographie rekonstruiert wird. |
| Weitere Informationen |
patent_039_DE10254778B3 download |
| Jahr | 2002 |
| Erfinder | Geckeler, Ralf Elster, Clemens Weingärtner, Ingolf Schulz, Michael |
| Verlauf des Patentverfahrens | DE 102 54 778.5 ; 2002-11-22 DE 102 54 778 B3 ; 2005-02-03 |
| IPC-Code | G01B |
| PTB-Zeichen | 0039 |
| Verwertungsinfo | LIZENZ VERFÜGBAR |
| Kontakt | Dr. Bernhard Smandek, Tel.: +49 531 592 8303 Fax +49 531 592 69 8303; bernhard.smandek@ptb.de |