Technologieangebot
Titel Scansonden-Mikroskop für Nichtleiter
Erläuterung Berührende und berührungslose Messung eines Probenkörpers mittels eines Scansonden-Mikroskops (STM)
Zusammenfassung Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung und ein Verfahren zur Bestimmung topologischer oder elektrischer Eigenschaften eines Probenkörpers, insbesondere Scansonden-Mikroskop, mit einem Sondenkörper, der erhaben an einem Träger angeordnet ist. Aufgabe der Erfindung ist es, eine Vorrichtung sowie ein Verfahren bereitzustellen, mit denen sowohl berührend als auch berührungslos die topologischen Eigenschaften eines Probenkörpers ermittelt werden können, ohne dass der Probenkörper elektrisch leitend sein muss. Diese Aufgabe wird dadurch gelöst, dass an dem Sondenkörper zumindest zwei elektrische Leiter elektrisch voneinander getrennt angeordnet sind und zwischen den Leitern ein elektrisches Feld ausgebildet ist, dessen Potenzialveränderung erfasst wird.
Weitere Informationen patent_057_DE10300988B4 download
Jahr 2003
Erfinder Doering, Lutz
Peiner, Erwin
Behrens, Ingo
Verlauf des Patentverfahrens DE 103 00 988.4 ; 2003-01-14
DE 103 00 988 B4 ; 2005-03-24
IPC-Code G12B021-002
PTB-Zeichen 0057
Verwertungsinfo LIZENZ VERFÜGBAR
Kontakt Dr. Bernhard Smandek, Tel.: +49 531 592 8303 Fax +49 531 592 69 8303; bernhard.smandek@ptb.de