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Optik
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PTB#
(Jahr)
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Titel
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Erläuterung
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IPC#
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8250
(2010)
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Multireflexions-Kavität
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Erlaubt erstmalig den Betrieb von Herriot-Zellen und Fabry-Perot-Zellen mit einer transversalen Einkopplung des Lichtstrahls.
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G02B
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0336
(2012)
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Optisches Phasenrausch-Messgerät
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Messgerät zur Charakterisierung des Phasen- bzw. Frequenzrauschens von Oszillatoren; Vorteile: großer Wellenlängenbereich und geringes Eigenrauschen eines Referenzlasersystems. Die Interpretation und Auswertung der Daten setzt keine Kenntnis über die dominierenden Rauschprozesse des Testlasers voraus.
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H01S
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0283
(2010)
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Rotationsstitching für große Flächen
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Die Ebenheitskalibrierung großer optischer Prüflinge wird nun präziser und einfacher. Mit relativ kleinen Interferometern können jetzt auch wesentlich größere Flächen hochgenau vermessen werden. Der Clou – einzelne Teiltopografien werden miteinander verknüpft. Ein weiterer Vorteil des neuen PTB-Konzepts: Durch die vertikale Anordnung des Prüflings wird es noch genauer, denn die störenden Schwerkrafteinflüsse entfallen.
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G01B
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0273
(2010)
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Reduzierung der räumlichen Kohärenz der Laserstrahlung
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Ermöglicht Speckle-Unterdrückung bei Lasern mit niedriger Repititionsrate und großer Kohärenzlänge für die Mikroskopie.
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G02B
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0222
(2008)
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Glasfasergeführte Referenzfrequenz
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Bereitstellung des Frequenzsignals einer optischen Atomuhr in einem normalen Glasfaserkabel über große Entfernungen und Konzept der Empfangsstation.
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G04F
H01S
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0213
(2008)
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Ultrakompensierter Laserspiegel
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Materialkombination und spezielle konstruktionstechnische Anordnung führen zu thermisch ultrastabilen Laserspiegel
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G02B005-008
G02B007-182
H01S003-002
H01S003-013
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0211
(2008)
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Modulares Scanning-Probe-Microscope (SPM)
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MEMS-basiertes SPM, modular erweiterbar auf eine hohe Anzahl parallel arbeitender Tastspitzen; Spitzen einfach austauschbar
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G01Q
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0210
(2008)
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Autokollimator-Winkelbestimmung
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Orientierungsbestimmung des Messobjekts bei Autokollimatoren
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G01B
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0177
(2007)
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Differentielles konfokales Mikroskop
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Erhöhung der Auflösung eines traditionellen konfokalen Mikroskops durch den Einsatz versetzter Blenden bis in den Nanometerbereich durch "common mode rejection"
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G02B021-000
G01B009-004
G01B011-024
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0146
(2007)
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Flächenselektives Fizeau-Interferometer
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Ermöglicht die Selektion von Vorder- und Rückreflex eines Testobjektes in einem Fizeau-interferometer.
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G01B011-014
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0144
(2006)
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Hochpräziser Polarisationsdetektor
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Erzeugt Schwebung aus einem übertragenen Polarisationssignal und einem lokalen Single Frequency Oszillator; dient dem Abgleich optischer Uhren
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G01J09-002
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0136
(2006)
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Frequenzversetzendes Bauelement
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Frequenzversetzendes Bauelemente extrem hoher Bandbreite, für Kurzpulslaser, Interferometrie und CARS anwendbar
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H01S003-011
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0134
(2006)
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Kalibrierfilter
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Universelles Multispektral-Kalibrierelement zur Vereinfachung der Qualitätssicherung spektraler Messungen
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G02B005-020
G02B005-028
G01N021-001
G01N021-025
G01
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0132
(2007)
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Drehpunkts-Projektor
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Messsystem für Oberflächentopografien mit Nanometergenauigkeit. Zur Qualitätsicherung bei planen, sphärischen und asphärischen Oberflächen.
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G01B
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0128
(2006)
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Gepulster parametrischer Oszillator im Einmodenbetrieb
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Weit abstimmbarer gepulster optischer-parametrischer Oszillator (OPO), u.a. für LIDAR Anwendungen
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G02F
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0121
(2006)
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Robuster Topographiemesser
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Plane oder nahezu plane Oberflächen können mit einer Genauigkeit von 0,001" oder 5 nm/m vermessen werden.
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G01B
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0120
(2006)
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Fizeau-Interferometer
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Eine neue Generation optischer Strahlteiler, eingesetzt in einem Fizeau-Interferometer, verbessert in einem einfacheren optischen Aufbau Qualitätssicherung an Oberflächen.
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G01B
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0117
(2006)
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Kohärenzmesser polarisierter Strahlenfelder
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Messung des Interferenzkontrastes und der Phasendifferenz optischer Pulse; zur Charakterisierung einzelner Datenpulse bis 100 GHz ohne Frequenzverdoppler
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G01J009-002
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0095
(2005)
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Autokollimationsfernrohr
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Durch die Verwendung von Phasenmasken in Autokollimationsfernrohren können um den Faktor 4 kleinere Flächen in der dimensionellen Messtechnik bestimmt werden. Einsatzbereich bei Mikrooptiken und in der Formmessung von Oberflächen (Topologien).
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G02B
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0088
(2004)
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Oberflächenmesssystem mit Planitätsnormal
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Multisensorsystem zur Messung und Kalibrierung von Oberflächen mit Nanometergenauigkeit. Selbstkalibrierend durch gradlinige Ausbreitung des Lichts.
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G01B011-024
G01B011-014
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0082
(2004)
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Monitoring physiologischer Parameter mittels Diodenlaser
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Medizinisches Anwendungsfeld, z.B. Schlaganfallmonitoring in Intensivstationen
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A61B
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0076
(2004)
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Optische Uhr und Zeitübertragung
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Ermöglicht die Übertragung von Zeitsignalen mittels Femtosekunden-Laser Systemen in Glasfasern.
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G04F
H01S
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0060
(2003)
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Maschinelle Bearbeitung transparenter Körper
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Verwendet Messtrahl im Innern des transparenten Werkstückes zur Bearbeitungskontrolle
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G01M011-002
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0050
(2002)
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Optischer Kleinwinkelgenerator
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Optisches Stellelement mit Anwendungen in "aktiver Optik", bei Strahlscanning-Verfahren und Metrologie.
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G02B026-008
G02B026-010
G01B
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0047
(2002)
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Kombinationsmikroskop
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Kombiniert ein optisches mit einem Rastersondenmikroskop.
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G12B21-08
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0039
(2002)
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Oberflächen-Messgerät
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Multisensor Scankopf zur Bestimmung einer Oberflächentopologie im Nanometerbereich.
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G01B
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0033
(2001)
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Lokaler Topografiemesser und Integrator
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Rein optische Oberflächenmesstechnik mit Nanometer-Auflösung.
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G01B011-024
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0032
(2001)
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Messgerät für Krümmungsradius
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Messung des absoluten Radius einer gekrümmten Oberfläche mit hoher Präzision.
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G01B021-020
G01B011-255
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0019
(1999)
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Rollwinkelbestimmung
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Optische Bestimmung des Rollwinkels während einer linearen Bewegung mittels Polarisatoren.
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G01B011-026
G01B011-030
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0017
(1998)
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Qualitätsicherung für gewölbte Flächen
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Hochgenaue, interferometrische Messung von 3D-Oberflächen
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G01B011-030
G01B011-024
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0014
(1998)
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Neuartiger Fourier-Filter
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Verfahren zur Rekonstruktion einer Messgröße aus verrauschten Differenzmessungen.
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G01J009-002
G01D003-002
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0012
(1998)
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Topografie-Scanner
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Erstmalige Bestimmung gekrümmter Oberflächen ohne Kalibirierung und referenzfrei.
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G01B011-030
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0011
(1998)
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Bestimmung nahezu planarer Oberflächen
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Referenzfreie Messung der Oberflächentopologie
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G01B011-024
G01B011-026
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