Patent- und Technologieangebote

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PTB-Patentangebote

Nach Themengebiet und dem Klartext der Internationalen Patentklassifikation (IPC) geordnet sind hier unsere Patentangebote für Sie zusammengestellt. Weitere Informationen zur Datenbank selbst finden Sie hier.

Themengebiet

IPC-Klasse

Jahr der Anmeldung

Materialanalyse

PTB#
(Jahr)

Titel

Erläuterung

IPC#

7015
(2011)

Phasendifferenzanalyse in der Magnetkraftmikroskopie

Ermöglicht die nm-genaue Analyse der magnetischen Struktur von Oberflächen wie z.B. in der Entwicklung von Computerfestplatten und der Untersuchung von magnetischen Kleinstpartikeln.

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G01N
G12B

0205
(2008)

Kompensations-Dehnungsmessstreifen

Bei dynamischen Kraftmessungen bis in den kHz-Bereich werden Temperatureffekte automatisch kompensiert.

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G01K007-016

0184
(2007)

Transientenverfahren mit optimierter Skalierung

Geringere Prozessorauslastung bei Stand-Alone-Geräten zur Temperaturleitfähigkeitsmessung durch optimiertes Skalierungsverfahren

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G01N025-018