Patent- und Technologieangebote

Patent- und Technologieangebote
Portal Technologietransfer
Ansprechpartner

PTB-Patentangebote

Nach Themengebiet und dem Klartext der Internationalen Patentklassifikation (IPC) geordnet sind hier unsere Patentangebote für Sie zusammengestellt. Weitere Informationen zur Datenbank selbst finden Sie hier.

Themengebiet

IPC-Klasse

Jahr der Anmeldung

Halbleitertechnik und Lithographie

PTB#
(Jahr)

Titel

Erläuterung

IPC#

0102
(2005)

Überprüfung von Solarzellen zur Qualitätssicherung

Ortsaufgelöste Überprüfung von Halbleitern, insbesondere von Solarzellen zur Qualitätssicherung

(mehr...)

G01N

0041
(2002)

Monitordetektor für VUV und EUV

Der neuartige Detektor dient dem Strahlungsmonitoring in der EUV-Lithographie mit hoher Präzission.

(mehr...)

G01J001-042
G01T001-185
G03F