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Patent- und Technologieangebote

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PTB-Patentangebote
Nach Themengebiet und dem Klartext der Internationalen Patentklassifikation (IPC) geordnet sind hier unsere Patentangebote für Sie zusammengestellt. Weitere Informationen zur Datenbank selbst finden Sie hier.
Themengebiet
IPC-Klasse
Jahr der Anmeldung
 
Fertigungsmesstechnik
PTB#
(Jahr)
Titel Erläuterung IPC#
0300
(2011)
Analoger Differentialantrieb für luftgelagerte Lineartische Einsetzbar in Bereichen, in denen hochgenaue lineare Bewegungen und die Stabilität reibungsfreier, luftgelagerter Tische und Systeme benötigt werden, z.B. Rauheits- und Koordinatenmesstechnik.
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B23Q
0268
(2010)
Fluid-Durchflussmesssystem Verfahren für die Bestimmung der Größen Volumen-, Massedurchfluss, Volumen und Masse strömender Fluide.
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G01F
0262
(2010)
Kritische Düsen zur Volumenstrombestimmung Verfahren und Einrichtungen zur Erzeugung definierter konstanter Volumenströme, einsetzbar für die Untersuchung und Kalibrierung von Flüssigkeitsmengenmessgeräten.
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G05D
0218
(2008)
Mobile Messeinrichtung Hochgenaue geometrische Messung von großen Werkstücken, z.B. Zahnrädern, mit Durchmesser > 1 m
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G01B
0216
(2008)
Kegelradnormal Rückführung der Kegelradform auf die Vermessung von Kugelteilen
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G01B
0131
(2006)
Atomarer Winkelteiler Führt Winkelteilung auf atomare Größen und damit auf Naturkonstante zurück
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G01B021-022
G01Q010/000
0127
(2006)
Tomographie-Prüfkörper 3D-Kalibrierung industrieller Tomographiegeräte mittels unabhängig kalibrierter Kugelkalotten-Anordnung.
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G01B015-000
0106
(2005)
AFM-Taster für die Mikrosystemtechnik Ein Cantileverarm eines Rasterkraftmikroskops (AFM) wird modifiziert um komplexe Mikrostrukturen, wie Zahnräder, Laschen, Bohrungen mit sub-Mikrometer Genauigkeit auszumesen.
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G12B021-002
G01N013-010
G12B0
0104
(2005)
6-achsiger Montageroboter
Erhöht freie Beweglichkeit, Präzision und Kontrolle von 6-Achs-Systemen. Zur Mikromontage bei ungehinderter Kamerabeobachtung. Optional vakuumkompatibel.
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B25J007-000
0100
(2005)
Luftlager mit Nanometerpräzision Eine spezielle Kombination aus Präzisionsdruckregelung und laminarer Umströmung ermöglicht reproduzierbare Tischhöhen von 2 nm.
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F16C032-006
B23Q001-038
0080
(2004)
Mikro-Prüfkörper aus Silizium Hochpräzise topografische Prüfkörper werden durch Ausnutzung der selektiven Ätzung an Silizium Oberflächen erzeugt.
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B81B
G01B
0074
(2003)
Erhabener Sondenkörper Durch die Ausführung als erhabene Sonde sind tiefe und hinterschnittene Oberflächenprofile ausmessbar.
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G01N013-016
G12B021-008
0073
(2003)
Prüfbohrung mit hohem Aspektverhältnis Erzeugung eines kalibrierten Prüfkörpers mit Aspektverhältnis bis 1:25
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B23P013-000
B23P015-016
G01B011-003
G01B021-014
0060
(2003)
Maschinelle Bearbeitung transparenter Körper Verwendet Messtrahl im Innern des transparenten Werkstückes zur Bearbeitungskontrolle
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G01M011-002
0032
(2001)
Messgerät für Krümmungsradius Messung des absoluten Radius einer gekrümmten Oberfläche mit hoher Präzision.
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G01B021-020
G01B011-255
0026
(2001)
Koordinatenmessgerät mit Überbestimmung Genauigkeitssteigerung durch Integration eines zweiten Messystems in Koordinatenmessgeräte. Überbestimmung der Anordnung ermöglicht Präzisionsteigerung
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G01B021-004
G01B011-002
B23Q017-000
0019
(1999)
Rollwinkelbestimmung Optische Bestimmung des Rollwinkels während einer linearen Bewegung mittels Polarisatoren.
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G01B011-026
G01B011-030
0017
(1998)
Qualitätsicherung für gewölbte Flächen Hochgenaue, interferometrische Messung von 3D-Oberflächen
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G01B011-030
G01B011-024
© Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB)
WEB-Redaktion