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Areas of Activities

5 Abteilung Fertigungsmesstechnik Prof. Dr. M. Kühne
5.1 Fachbereich Nano- und Mikrometrologie Dr. G. Wilkening
5.11 Mikrosystemmesstechnik Dr. U. Brand
  • Untersuchung von Tastereigenschaften (3D-Kalibriereinrichtung für Mikrotastsysteme)
  • Entwicklung taktiler Antastverfahren für Mikrostrukturen (3D-Mikrotaster, Rauheitssensoren auf der Basis von Si-Cantilevern)
  • Aufbau und Erprobung einer 3D-Mikromesseinrichtung (3D-MME)
  • Tiefeneinstellnormale > 10 µm
  • Mitarbeit im SFB 516 (Messtechnik für SFB, µN-Kraft-Kalibriertechnik)
  • CC UPOB
5.12 Härtemesstechnik Dr. K. Herrmann
  • DKD-Begutachtung und -Akkreditierung von Härtelaboratorien, Vergleichsmessungen auf dem Gebiet der Härte
  • Mitarbeit in Gremien Härte von DIN, ISO, IMEKO, CCM
  • Weiterentwicklung der Normalmesseinrichtung für Makrohärte
  • Entwicklung metrologischer Grundlagen für Nanoindentationsverfahren
  • Untersuchung des laserakustischen Messverfahrens
  • Kalibrierungen von Härtenormalplatten
5.13 Grenzflächenstrukturen Dr. J. Stümpel
  • Theoretische Grundlagen der diffusen Röntgenstreuung (DXRS), Entwicklung von Methoden der diffusen Röntgenstreuung (DXRS)
  • Schichtdickenmessung mit Reflektometrie (XRR)
  • Charakterisierung von Festkörperdünnschichtsystemen und strukturierten Grenzflächen
5.14 Schichtdicke und Nanostrukturen Dr. L. Koenders
  • Bestimmung der Mikrotopografie dünner Schichten
  • SPM-Messtechnik und Wechselwirkungen
  • Verbesserung der Schichtdickenmesstechnik
  • Mikro- und Nanoschichtdickennormale
  • Weiterentwicklung Längenmesstechnik mit SPM
  • Kalibrierung von Schichtdickennormalen und Geräten
  • Kalibrierung von lateralen Normalen
  • DKD-Begutachtung und -Akkreditierung im Bereich Schichtdicke
5.15 Quantitative Rastersondenmikroskope Dr. H.-U. Danzebrink
  • Geräteentwicklung von Metrologie-SPMs
  • Weiterentwicklung der Nanomessmaschine
  • Entwicklung von SPM-Antastköpfen
  • Charakterisierung von Mikro- und Nanostrukturen
5.16 Rauheitsmessverfahren Dr. R. Krüger-Sehm
  • Weiterentwicklung Interferenzmikroskopie
  • Aufbau eines hochauflösenden Tastschnittgerätes (HRTS)
  • Entwicklung und Kalibrierung von Nanoraunormalen
5.17 Kalibrierung von Rauheitskenngrößen Dipl.-Ing. L. Jung
  • Kalibrierung von Tiefeneinstell-, Stufenhöhen-, Raunormalen und Geräten
  • Referenzsoftware und Filter in der Rauheitsmesstechnik
  • DKD-Begutachtung und -Akkreditierung im Bereich Rauheitsmessung
5.2 Fachbereich Längen- und Winkelteilungen Dr. H. Bosse
5.21 Längenteilungen Dr. J. Flügge
  • Weiterentwicklung Nanometerkomparator und Einsatz für hochpräzise 1D-Längenkalibrierungen
  • Entwicklung eines kombinierten optischen und Röntgen-Interferometers zur Bestimmung der Gitterkonstante von Siliciumeinkristallen
  • Untersuchung von Längenmesssystemen für die Mikrosystemtechnik (SFB 516)
  • Kalibrierung thermischer Ausdehnungskoeffizienten stabförmiger Messobjekte
  • Temperaturmesstechnik für die Längenmessung bei 20 °C
  • Nutzerbetreuung der Prozessperipherie PP2
  • DKD-Begutachtungen und Kalibrierung von Vergleichsnormalen für DKD-Laboratorien im Bereich 1D-Strichteilungen
5.22 Maskenmesssysteme Dr. H. Bosse
  • Entwicklung von Messgeräten und -verfahren für Positionsmessungen an zweidimensionalen Maßverkörperungen mit Nano- und Mikrostrukturteilungen
  • Untersuchung und Optimierung von optischen, elektronenoptischen und rastersondenmikroskopischen Messverfahren zur Strukturlokalisierung
  • Kalibrierung von Photomasken, Wafern, Strichmaßstäben und Strichplatten
  • DKD-Begutachtungen und Kalibrierung von Vergleichsnormalen für DKD-Laboratorien im Bereich 2D-Strichteilungen
5.23 Winkelmesstechnik Dr. R. Probst
  • Darstellung der Winkelskala auf der Grundlage der Kreisteilung
  • Entwicklung von Normalmesseinrichtungen und Messverfahren zur Winkelkalibrierung
  • Kalibrieren von Winkelmaßverkörperungen und Winkelmessgeräten
  • DKD-Begutachtungen und Kalibrierung von Vergleichsnormalen für DKD-Laboratorien im Bereich Winkelmessgrößen
5.3 Fachbereich Koordinatenmesstechnik Dr. F. Wäldele
5.31 Geometrische Normale Dr. O. Jusko
  • Weiterentwicklung Messtechnik für Form und Lage sowie Länge
  • Entwicklung von Auswertesoftware für Form, Lage und Durchmesser bzw. Länge
  • Entwicklung und Rückführung komplexer Maßverkörperungen für dimensionelle Messungen
5.32 Koordinatenmesstechnik Dr. H. Schwenke
  • Verfahren zur Kalibrierung, Prüfung und Genauigkeitssteigerung von dreidimensional messenden Koordinatenmessgeräten unabhängig von ihrer Bauform und ihrem Arbeitsvolumen
  • Kalibrierung von Normalen für die Koordinatenmesstechnik
  • Prüfung von Auswertealgorithmen für die Koordinatenmesstechnik
  • Produktionsnahe Koordinatenmesstechnik
5.33 Verzahnung und Gewinde Dr. F. Härtig
  • Entwicklung von Verfahren zur Kalibrierung, Prüfung und Genauigkeitssteigerung von Verzahnungsmessgeräten
  • Prüfung und Zertifizieren von Verzahnungsalgorithmen
  • Kalibrierung von Verzahnungsnormalen
  • Entwicklung von Verzahnungsnormalen
  • Mitarbeit in nationalen und internationalen Normungsgremien
  • Mitwirkung beim Aufbau eines virtuellen Institutes
5.33
5.34 Optische Sensorik Dr. U. Neuschaefer-Rube
  • Prüfung und Genauigkeitssteigerung von optischen Sensoren für Koordinatenmessgeräte
  • Messung von Mikrogeometrien
  • Röntgen-Computertomographie für dimensionelle Messungen
5.35 Messtechnische Dienstleistungen Dipl.-Ing. J. Hirsch
  • Durchführung der messtechnischen Dienstleistungen, einschließlich deren organisatorischen Abwicklung, Durchführung des Prüfmittelmanagements
  • Bereitstellung,Pflege und Weiterentwicklung von Messmitteln
  • Überwachung der Messräume
  • Pflege und Weiterentwicklung des QM-Systems
  • Internet-Unterstützung und Web-Pflege
  • Abwicklung des Bestellwesens
5.4 Fachbereich Längenmaß- und -messmittel Dr. A. Abou-Zeid
5.41 Interferometrie an Maßverkörperungen Dr. A. Nicolaus
  • Entwicklung und Anwendung eines Kugelinterferometers zur Präzisionsbestimmung von Kugeldurchmesser und –topografie
  • Avogadro-Projekt
  • Aufbau, metrologische Untersuchung und Anwendung eines Planflächen-Fizeau-Interferometers mit gegenüberliegenden Ausgängen zur Volumenbestimmung würfelförmiger Dichtenormale
5.42 Diodenlaseranwendungen in der Längenmesstechnik Dr. A. Abou-Zeid
  • Diodenlaserinterferometrie für die Fertigungsmesstechnik
  • Kalibrierung von Strichmaßen und Entfernungsmessgeräten
  • Mehrwellenlängen-Diodenlaserinterferometrie für metrologische Anwendungen
  • Entwicklung und Optimierung eines brechzahlkompensierenden Interferometers
5.43 Kalibrierung von Endmaßen P. Franke
  • Kalibrierung von Parallelendmaßen
  • Begutachtung von DKD-Laboratorien für Parallelendmaße
  • Aufbau und Optimierung stabilisierter Laserlichtquellen,
5.44 Kaliberierung von Laserinterferometern G. Sparrer
  • Kalibrierung von Laserinterferometern, Wetterstationen und Luftrefraktometern
  • Entwicklung eines Mehrwellenlängen-Refraktometers
5.45 Zulassung von Längenmessmitteln Dr. M. Wolf
  • Prüfung und Zulassung zur Eichung von Strichmaßen sowie von Entfernungsmessgeräten
  • Prüfung und Zulassung zur Eichung von Längen-, Flächen- und Volumenmessmaschinen sowie Choirometern und deren Zusatzeinrichtungen
  • Begutachtung von DKD-Laboratorien für einfache Längenmessmittel, Mitarbeit bei DKD- und VDI-Gremien (Fachausschuss Länge und Messunsicherheit)
  • Pflege und Weiterentwicklung des QM-Systems des Fachbereichs
5.46 Thermische Ausdehnung stabiler Materialien Dr. R. Schödel
  • Entwicklung und Anwendung eines Präzisionsinterferometers zur Bestimmung von thermischen Ausdehnungskoeffizienten und Kompressibilität stabiler Materialien
  • Entwicklung und Optimierung von Komparatoren für Parallelendmaße
5.5 Fahbereich Wissenschaftlicher Gerätebau Prof. Dr.-Ing. F. Löffler
5.51 Arbeitsgruppe Konstruktion Dipl.-Ing. H. Lüllmann
  • Neukonstruktion hochpräziser und langzeitstabiler Messgeräte und Versuchseinrichtungen
  • Änderung und Erweiterung bestehender Konstruktionen
  • Beratung in werkstoffrelevanten und konstruktiven Fragen
  • Durchführung von Bauteilberechnungen sowohl analytisch als auch mit Hilfe der FEM-Methode
  • Führung einer Fachkatalog- und Prospektsammlung zur Bereitstellung technischer Informationen
  • Vorbereitung konstruktionsbegleitender Versuche
  • Aufbereitung der CAD-Konstruktionsdaten für einen CNC-Datenaustausch
5.52 Arbeitsgruppe Fertigung Dipl.-Ing. V. Jäger
  • Fertigung von Werkstücken höchster Genauigkeit aus den unterschiedlichsten Werkstoffen
  • Zusammenbau der Einzelteile zu Baugruppen sowie Funktionsprüfung und Endmontage in den Laboratorien
  • Beratung zur Fertigungstechnik und zur Beschaffung von Werkzeugmaschinen
5.53 Arbeitsgruppe Fertigungstechnologie Dipl.-Ing. V. Jäger
  • Entwicklung und Erprobung neuer Fertigungsstrategien auf den Gebieten Diamantdrehen, Ultrapräzisionsschleifen und Polieren u.a. von Silizium, Draht- und Senkerodieren
  • Herstellung von Normalen oder von Präzisionsteilen für Anwendungen in der Messtechnik
5.54 Arbeitsgruppe Elektronik Dipl.-Ing. R. Meeß
  • Entwicklung und Bau elektronischer Komponenten für Messgeräte und Versuchseinrichtungen, die im Fachbereich Wissenschaftlicher Gerätebau aufgebaut wurden und eine Steuerung, Messsignalverarbeitung oder Datenanalyse benötigen
  • Forschung und Entwicklung in den Bereichen Sensorik, Dünnschichttechnik und Laserbearbeitung für die Mikrotechnik
5.55 Arbeitsgruppe Ausbildung Prof. Dr.-Ing. F. Löffler
  • Ausbildung zu den Berufen: Feinwerkmechaniker mit den Schwerpunkten Maschinenbau und Feinmechanik, technische Zeichner mit dem Schwerpunkt Maschinen- und Anlagentechnik
  • Durchführung von Praktika von Studenten des Maschinenbaus
5.56 Arbeitsgruppe Mikroelemente Dipl.-Ing. R. Meeß
  • Entwicklung und Aufbau einer Einrichtung zur Montage von Mikrokomponenten
  • Entwicklung und Fertigung von Mikrokomponenten, u.a. Linearlager
5.57 Arbeitsgruppe Sensorentwicklung zur Untersuchung des Äquivalenzprinzips Prof. F. Löffler
  • Entwicklung und Fertigung neuartiger Sensoren
 
© Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB)
Jahresbericht 2006, WEB-Redaktion
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