Areas of Activities
2
Abteilung Elektrizität
Dir. u. Prof. Dr.-Ing. Hans Bachmair
2.1
Fachbereich Gleichstrom und Niederfrequenz
Dr. J. Melcher
2.11
R-L-C-Messtechnik
Dr. R. Hanke
- Widerstands-Skale von 100 µOhm bis 100 Tohm
- Induktivitäts -Skale von 1 µH bis 100 H im Frequenzbereich von 50 Hz bis 1 MHz
- Kapazitäts -Skale von 1000 pF bis 1 F im Frequenzbereich von 50 Hz bis 1 MHz
- elektrische Leitfähigkeit von Metallen von 1 MS/m
2.12
Wechsel-Gleich-Transfer, Abtastverfahren, Verhältnismessungen
Dr. G. Ramm
- Wechsel-Gleich-Transfer für Wechselspannungs-Skale von 1 mV bis 1000 V im Frequenzbereich von 10 Hz bis 1 MHz
- Wechsel-Gleich-Transfer für Wechselstromstärke-Skale von 100 µA bis 20 A im Frequenzbereich von 10 Hz bis 100 kHz
- Wechselspannungsverhältnis
2.13
Kapazitätsmessungen und Gremienarbeit
Dr. J. Melcher
- Darstellung der Kapazitätseinheit mit dem Thompson-Lampard-Kondensator
- Kapazitäts -Skale von 10 pF bis 1 nF bei Frequenz von 1 kHz und 1,59 kHz
- Vertretung der PTB in EUROMET-Gremien und Gremien der Meterkonvention
2.2
Fachbereich Hochfrequenz und Felder
Dr. T. Schrader
2.21
Elektromagnetische Felder
Dr. T. Schrader
- Messung und Darstellung elektrischer und magnetischer Hochfrequenzfelder
- Entwicklung und Kalibrierung von Messgeräten für Feldstärke und Energiestromdichte
- Untersuchungen zur Erweiterung des nutzbaren Frequenzbereichs bis ins Sub-THz-Gebiet
2.22
Hochfrequenzmesstechnik
Dr. R. Judaschke
- Entwicklung von Normalen und Normalmesseinrichtungen für HF-Leistung, -Dämpfung, -Impedanz und Streukoeffizienten (S-Parameter, Reflexions- und Transmissionsfaktoren) zwischen 1 MHz bis 110 GHz sowie für HF-Spannung bis 2 GHz
2.23
On-Wafer-Mikrowellenmesstechnik
Dr. U. Arz
- Entwicklung von On-Wafer-Messverfahren zur Charakterisierung von planaren Dünnschichtschaltungen
- breitbandige Charakterisierung von Interconnects auf unterschiedlichsten Substratmaterialien
- minimal-invasive Messung von Streuparametern
2.24
Antennenmesstechnik
Dr. T. Schrader
- Aufbau und Betrieb des Referenz-Freifeldmessplatzes
- Entwicklung und Ausführung von Kalibrierverfahren für Antennen
- Verifikation von Antennenmessverfahren
- Untersuchung des Einflusses elektromagnetischer Strahlung auf biologische Systeme
2.3
Fachbereich Elektrische Energiemesstechnik
ORR. Dr. M. Kahmann
2.31
Messwandler und Hochspannung
Dr. K. Schon
- Bewahrung der Normale und Konzeption von Messverfahren auf dem Gebiet der Messwandler und der Hochspannung
- Kalibrierung und Prüfung von Normal- und Präzisionswandlern, Wandlermesseinrichtungen, Bürden, Kondensatoren, Hochspannungs-, Stoßstrom-, Teilen
2.32
Grundlagen der Energiemesstechnik
Dr. W. G. Kürten Ihlenfeld
- Entwicklung von elektronischen Schaltungen
- Aufbau eines Systems für Kalibrierungen im Bereich Power Quality
- Untersuchungen von mathematischen Transformationsverfahren in der Energiemesstechnik
- Untersuchungen von Deglitcherschaltungen für eine Josephson AC Quelle
- Anwendung der Finite-Elemente-Methode in der Energiemesstechnik
- Anwendung von Wavelets in der Analyse digital abgetasteter Messwerte für Power Quality
2.33
Leistung und Energie, Prüfstellenwesen
Dr. L. Palafox
- Entwicklung von Messverfahren zur Kalibrierung und Prüfung von Präzisionsmessgeräten für Leistung und Energie im Frequenzbereich von 15 Hz bis 1 kHz
- Prüfung bzw. Kalibrierung von Normalgeräten der staatlich anerkannten Prüfstellen für Messgeräte für Elektrizität, der Eichbehörden sowie der Kalibrierlaboratorien der Industrie
- Beratung staatlich anerkannter Prüfstellen
- Beratung von Politik, Wirtschaft und Gesellschaft in Fragen der elektrischen Energiemesstechnik
- Gremienarbeit im Bereich elektrische Energiemesstechnik
- Darstellung von Netzqualitätskenngrößen
2.34
Bauartzulassung/Konformitätsbewertung Elektrische Energiemesstechnik
Dr. H.-G. Latzel
- Bauartzulassung/Konformitätsbewertung von Elektrizitätszählern und Messwandlern
- Bewertung von Prozessen metrologischer Qualitätssicherung
- Umsetzung der MID in die Praxis
- Innovative Lösungen für das gesetzliche Messwesen
2.4
Fachbereich Quantenelektronik
Dir. u. Prof. Dr. J. Niemeyer
2.42
RSFQ-Logikschaltungen
ORR, Dr. F.-Im. Buchholz
- Entwicklung und Untersuchung von hochintegrierbaren supraleitenden mikroelektronischen Schaltungselementen, die in RSFQ-Logik betrieben werden können
- Entwicklung und Untersuchung schneller RSFQ-Logikschaltungen für die HF-Messtechnik
2.43
Programmierbares Josephson-Spannungsnormal
Dr. J. Kohlmann
- Entwicklung, Herstellung und Untersuchung von integrierten Josephson-Reihenschaltungen für programmierbare Spannungsnormale
- Einsatz der Schaltungen für Anwendungen in der Präzisionsmesstechnik
2.44
Nanostrukturen für technische Anwendungen
Dr. Th. Weimann
- Elektronenlithographie im Nanometerbereich: Herstellung von Verbindungsleitungen für integrierte Schaltungen und Erzeugung von Gitterstrukturen für technische und metrologische Anwendungen
- Hochauflösende Elektronenmikroskopie
- Digitale Bildverarbeitung
2.45
Einzelelektronentunnel Quantum Computing
Dr. A. Zorin
- Entwicklung, Herstellung und Untersuchung von kryoelektronischen Bauelementen, inklusive supraleitender Quantenkohärenz-Schaltkreise für Anwendungen in der Quanten-Metrologie und der Präzisionsmesstechnik
2.5
Fachbereich Halbleiterphysik und Magnetismus
Priv.-Doz. Dr. U. Siegner
2.51
Magnetische Messtechnik
RD M. Albrecht
- Darstellung, Realisierung und Weitergabe der Einheit der magnetischen Flussdichte
- Entwicklung von Verfahren für die Messung magnetischer Feldstärken
- Prüfung und Kalibrierung von Spulensystemen und Magnetfeldmesseinrichtungen im Frequenzbereich 0 Hz bis 125 kHz
- Messung von Feldprofilen in Spulen und Abschirmbehältern
- Bestimmung von Abschirmfaktoren
- Entwicklung von Präzisionsmessverfahren zur Bestimmung von Kenndaten magnetischer Werkstoffe
- Präzisionsmessung von Suszeptibilität, Magnetisierung und hohen magnetischen Flussdichten
- Prüfung von magnetischen Werkstoffen und Messgeräten
- Entwicklung von Stromstärkenormalen und Messeinrichtungen auf der Basis magnetischer Messverfahren
2.52
Signalspeichertechnik
RD Dr. M. Albrecht
- Magnetkraftmikroskopie: mit magnetischen Methoden der Rastersondenmikroskopie werden zur Zeit Untersuchungen zu den folgenden Bereichen durchgeführt: Oberflächen von magnetischen Datenträgern hoher Aufzeichnungsdichte, Nanoteilchen für die medizinische Diagnostik (Magnetosome), Nanodrähte und selbstorganisierende Nanoteilchen, Methoden zur quantitativen Magnetkraftmikroskopie
- Referenzmaterial für magnetische Datenträger: zur Unterstützung der internationalen Normen für die magnetischen Eigenschaften von Disketten und Magnetstreifen auf Identifikationskarten und dünnen biegsamen Karten werden die internationalen Primärnormale gehalten und Sekundärnormale verkauft
- Prüfungen von magnetischen Datenträgern: Überprüfung der elektromagnetischen Eigenschaften von Disketten und Magnetstreifen auf Übereinstimmung mit den in den entsprechenden nationalen und internationalen Normen
- Untersuchungen zum Löschen von magnetischen Datenträgern
- Untersuchungen zur Haltbarkeit von magnetischen Datenträgern
2.53
Niedrigdimensionale Elektronensysteme
Dr. H. W. Schumacher
- Untersuchung von elektrischen und magnetischen Eigenschaften in Halbleiterwerkstoffen und deren Dimensionsabhängigkeit
- Untersuchung makroskopischer Quanteneffekte hinsichtlich ihrer Verwendbarkeit zur Darstellung elektrischer Einheiten
- Herstellung und Charakterisierung spezieller Halbleiter-Schichtkristalle
- Herstellung und Optimierung komplexer Quanten-Hall-Effekt-Schaltungen
- Untersuchung akusto-elektrischer Transportvorgänge in ein-dimensionalen Strukturen
2.54
Terahertz-Optik
Priv.-Doz. Dr. U. Siegner
- Erzeugung von Pikosekunden-Spannungsimpulsen mit Halbleiter-Photoschaltern
- Entwicklung von Abtastverfahren zur zeitaufgelösten Messung elektrischer Signale mit Subpikosekunden-Zeitauflösung
- Entwicklung von Verfahren zur Kalibrierung des Zeitverhaltens schneller elektronischer Bauelemente
- Kalibrierung von 70 GHz Oszilloskopen
- Erzeugung von THz Strahlung mit rein optischen Verfahren
- Grundlagenuntersuchung ultraschneller dynamischer Vorgänge
2.6
Fachbereich Elektrische Quantenmetrologie
Dr. F.-J. Ahlers
2.61
SET, Stromstärke und Ladung
Dr. H. Scherer
- Präzisionsmessungen mit SET Schaltungen im Hinblick auf eine Neudefinition der Einheit Ampere
- Entwicklung von Verfahren zur Messung kleiner Stromstärken mit klassischen und Quanten-Methoden
2.62
Quanten-Hall-Effekt, Widerstand
Dr. P. Warnecke
- Ohm-Darstellung und Bestimmung der Feinstruktur-Konstanten
- grundlegende Untersuchungen zum QHE
- AC-Quanten-Hall-Effekt
- Präzisionsmessungen mit Kryo-Stromkomparatoren
2.63
Josephson-Effekt, Spannung
Dr. R. Behr
- Entwicklung und Einsatz programmierbarer Quanten-Spannungsnormale für Präzisionsmessungen bei Gleich- und Wechselstrom
- Reproduzierung der Einheit Volt mit dem Josephson-Effekt
- programmierbare Josephson-Arrays für ein neues Leistungsnormal