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Working Group 5.42
Multiwavelength Interferometry for Geodetic Lengths






- Tasks
- Refractive Index Compensating Interferometry
- Development
- Equipment
- Accreditation of Length Measuring Equipments
- Regulations, Standards and Instruction Sheets
- Service
* Publications
- Contact persons

Publikationen


  1. Meiners-Hagen, K.; Abou-Zeid, A.:
    "Refractive index determination in length measurement by two-colour interferometry";
    International Symposium on Measurement Technology and Intelligent Instruments (ISMTII 2007) ; in: Measurement Science and Technology: 19 (2008), 8, 084004-1 - 084004-5;
    Identifier dx.doi.org/10.1088/0957-0233/19/8/084004; ISSN 0957-0233; Herausgeber Gao, Wei; Tohoku University, Department of Nanomechanics, Sendai, JAPAN; Krystek, Michael; 5, Fertigungsmesstechnik, PTB-Braunschweig; Verlag Bristol: IOP
    ISMTII 2007, 8th International Symposium on Measurement Technology and Intelligent Instruments, Sendai, 24-27, September, 2007


  2. Hartmann, L.; Meiners-Hagen, K.; Abou-Zeid, A.:
    "Absolute distance interferometer with two external cavity diode lasers";
    Measurement Science and Technology:19 (2008), 4, 045307-1 - 045307-6;
    Identifier stacks.iop.org/0957-0233/19/045307
    dx.doi.org/10.1088/0957-0233/19/4/045307
    ISSN 0957-0233; Verlag Bristol: IOP; (2008)


  3. Meiners-Hagen, K.; Abou-Zeid, A.:
    "Air refractive index compensation in length measurements by optical interferometry";
    Proceedings of ISMTII 2007: the 8th International Symposium on Measurement Technology and Intelligent Instruments: (2007), 51 - 54; Herausgeber: The International Committee on Measurements and Instrumentation JSPE Technical Committee for Intelligent Nano-Measure; Verlag Sendai: Tohoku University
    8th International Symposium on Measurement Technology and Intelligent Instruments, Sendai, 24-27, September, 2007


  4. Hartmann, L.; Meiners-Hagen, G.; Abou-Zeid, A.:
    "Absolute distance interferometry using two diode lasers"
    Proceedings of the 7th international conference, European Society for Precision Engineering and Nanotechnology: May 20th - May 24th 2007, Bremen, Germany. Vol. 2: (2007), 73 - 76; ISBN 0-9553082-2-4 ; ISBN 978-0-9553082-2-2; Herausgeber Thornett, E.; Verlag Bedford: Euspen
    7th International Conference of the European Society for Precision Engineering and Nanotechnology (euspen), Bremen, 20-24, May, 2007


  5. Meiners-Hagen, K.; Abou-Zeid, A.:
    "Compensation of refractive index of air";
    Proceedings of the 7th international conference, European Society for Precision Engineering and Nanotechnology: May 20th - May 24th 2007, Bremen, Germany. Vol. 2:(2007), 97 - 100;
    ISBN 0-9553082-2-4 ; ISBN 978-0-9553082-2-2; Herausgeber Thornett, E.; Verlag Bedford: Euspen
    7th International Conference of the European Society for Precision Engineering and Nanotechnology (euspen), Bremen, 20-24, May, 2007


  6. Hartmann, L.; Burgarth, V.; Meiners-Hagen, K.; Abou-Zeid, A.:
    "Distance measurement by absolute interferometry using tunable diode lasers";
    MAPAN:22 (2007), 1, 21 - 26;
    Identifier www.metrologyindia.org/mapan/22a/3-Lutz%20Hartmann.pdf;
    ISSN 0970-3950; Verlag New Delhi: Metrology Society of India;
    6th International Conference on Advances in Metrology, New Delhi, 11-13, December, 2006


  7. Hartmann, L.; Burgarth, V.; Meiners-Hagen, K.; Abou-Zeid, A.:
    "Distance measurement by absolute interferometry using tunable diode lasers";
    International Conference on Advances in Metrology : AdMET 2006, December 11 - 13, 2006; [proceedings] (2006)
    253 - 256 [print ed.]; [CD-ROM] file name: 053.pdf;
    ISBN 978-3-8007-2939-5 ; ISBN 3-8007-2939-3; Herausgeber Reindl, Leonhard M.; Verlag Berlin [u.a.]: VDE-Verlag;
    6th International Conference on Advances in Metrology, New Delhi, 11-13, December, 2006


  8. Hartmann, L.; Meiners-Hagen, K.; Abou-Zeid, A.:
    "Distance measurement by absolute interferometry using two diode lasers"
    Reindl, Leonhard M., Verlag Berlin [u.a.]: VDE-Verlag, ISBN 978-3-8007-2939-5; ISBN 3-8007-2939-3: Sensoren und Messsysteme 2006, Vorträge der 13. ITG/GMA-Fachtagung vom 13. bis 14.3.2006 in Freiburg/Breisgau: p. 253 - 256 [print ed.]; [CD-ROM] file name: 053.pdf (2006)


  9. Meiners-Hagen, K.; Terra, O.; Abou-Zeid, A.:
    "Two colour interferometry"
    Reindl, Leonhard M., Verlag Berlin [u.a.]: VDE-Verlag, ISBN 978-3-8007-2939-5 ; ISBN 3-8007-2939-3, Sensoren und Messsysteme 2006: Vorträge der 13. ITG/GMA-Fachtagung vom 13. bis 14.3.2006 in Freiburg/Breisgau: p. 249 - 252 [print ed.]; [CD-ROM] file name: 052.pdf (2006)


  10. Meiners-Hagen, K.; Schödel, R.; Burgarth, V.; Abou-Zeid, A.:
    "Multi-wavelength measurement techniques" Tianjin, China: Tianjin Tong Li Printing Co., ISSN 1672-6030, Nanotechnology and Precision Engineering: 3, 1, 46 - 52 (2005)


  11. Sparrer, G.; Abou-Zeid, A.:
    "Uncertainty analysis of the PTB measuring equipment for the investigation of laser interferometers" Weinheim: Wiley-VCH, ISBN 3-527-40502-X ; ISBN 978-3-527-40502-2, Nanoscale calibration standards and methods: dimensional and related measurements in the micro- and nanometer range: p. 345 - 357 (2005)


  12. Schödel, R.; Abou-Zeid, A.:
    "PTB’s precision interferometer for high accuracy characterization of thermal expansion properties of low expansion materials", Weinheim: Wiley-VCH, ISBN 3-527-40502-X ; ISBN 978-3-527-40502-2, Nanoscale calibration standards and methods : dimensional and related measurements in the micro- and nanometer range: p. 500 - 514, (2005)


  13. Wolf, M.; Abou-Zeid, A.:
    "Längenmesstechnik", PTB-Mitteilungen, Bremerhaven: Wirtschaftsverl. NW, Verl. für neue Wissenschaft, ISSN 0030-834X, 114, 2, S. 152 - 155 (2004)


  14. Wu, J.; Meiners-Hagen, K.; Burgarth, V.; Abou-Zeid, A.:
    "Recent development in absolute interferometry using two diode lasers", European Society for Precision Engineering and Nanotechnology, ISBN 1-861-94108-0, Proceedings of the 4th euspen International Conference : May 31st - June 2nd 2004, Glasgow, Scotland, UK, p. 278 - 279 (2004)


  15. Schödel, R.; Abou-Zeid, A.:
    "PTB’s Precision Interferometer for most precise characterization of thermal expansion properties of low expansion materials", Seminar NanoScale, Braunschweig, 25-26, March, (2004)


  16. Burgarth, V.; Meiners-Hagen, K.; Abou-Zeid, A.:
     "Rundheitsmessungen mit einem Diodenlaserinterferometer", Technisches Messen , 71, p. 335 - 340 (2004)


  17. Meiners-Hagen, K.; Burgarth, V.; Abou-Zeid, A.:
     "Profilometry with a multi-wavelength diode laser interferometer", Measurement Science and Technology 15, p. 741 - 746 (2004)


  18. Sparrer, G.; Abou-Zeid, A.:
    Error sources in the PTB measuring equipment for the investigation of laser interferometers: NanoScale 2004, 6th Seminar on Quantitative Microskopy (QM)and 2th Seminar on Nanoscale Calibration Standards and Methods. Braunschweig, 25./26.März 2004. Poster, ausführliche Fassung mit 9 Seiten, 2 Tabellen, 3 Abbildungen wird in einem Tagungsband erscheinen.


  19. Kinder, Th.; Sparrer, G.; Salewski, K.-D.:
    Test eines absolutmessenden Interferometers am 50m-Längenkomparator der PTB. Vortrag auf der 105. Tagung der Deutschen Gesellschaft für angewandte Optik DGaO 2004, 1.-5. Juni 2004 Bad Kreuznach, Elektronischer Tagungsband der DGaO in Vorbereitung.


  20. Bodermann, B.; Flügge, J.; Meiners-Hagen, K.:
     "Improved second harmonic two wavelength interferometer with refractive index correction without effect modulation", Recent developments in traceable dimensional measurements II, Proceedings of SPIE, Vol. 5190 (2003)


  21. Burgarth, V.; Zhang, C.; Abou-Zeid, A.
     "Absolut messendes Diodenlaserinterferometer - Diode laser interferometer for absolute distance measurement", Technisches Messen: 70, 2, 53 - 58 (2003)


  22. Altmeyer, H.J.; Abou-Zeid, A.:
    Near-Infrared Water Vapour Sensor using an External Cavity Diode Laser, 4th International Conference on Tunable Diode Laser Spectroscopy (2003)


  23. Altmeyer, H.J.; Abou-Zeid, A.:
    "1st Approach to an ECDL based Hygrometer", Wavelength References for optical Telecommunications: Proceedings of the CREW Workshop & 182. PTB Seminar (2003)


  24. Zhang, C.; Meiners-Hagen, K.; Burgarth, V.; Abou-Zeid, A.:
     "High accuracy absolute distance measurement within 2 m using two diode lasers", Proc. of the euspen International Topical Conference, Aachen, Manfred Weck, Horst Kunzmann (Eds.) Vol. 2, p. 383 (2003)


  25. Meiners-Hagen, K; Abou-Zeid, A.:
     "Two color interferometer with compensation of refractive index of air", VDI-Berichte Nr. 1694, p. 125 (2002)


  26. Burgarth, V; Abou-Zeid, A.:
     "Diode laser interferometer for traceable absolute distance measurement", VDI-Berichte Nr. 1694, p. 41 - 46 (2002)


  27. Burgarth, V.; Abou-Zeid, A.:
     "Development of a calibration device for simple measuring instruments", Proc. of the 3rd euspen Int. Conf., Eindhoven, The Netherlands, F. L. M. Delbressine et al. (Eds.) Vol. 2, p. 609 - 612 (2002)


  28. Meiners-Hagen, K.; Abou-Zeid, A.:
     "Optical Roughness Measurement with a Multiwavelength Diode Laser Interferometer", Proc. of the 3rd euspen Int. Conf., Eindhoven, The Netherlands, F. L. M. Delbressine et al. (Eds.) Vol. 2, p. 597 (2002)


  29. Sparrer, G.:
    Calibration of complete laser interferometers for length measurements. Length Bulletin, A dence guide to information of the EUROMET length group, September 2002, Issue 7, 8-9, Herausgeber NMi Van Swinden Laboratorium B.V.


  30. Sparrer, G.; Meyer, T.; Lindemann, H.; Abou-Zeid, A.:
    Die Kalibrierung von Laserinterferometern für Längenmessungen und Bestimmung ihrer Messunsicherheiten in der PTB. 47. Vortrag Internationales Wissenschaftliches Kolloquium der Technischen Universität Ilmenau (23.-26.September 2002) Tagungsband 508-509, ausführliche Fassung auf CD. Englisch-Übersetzung liegt bei den Autoren vor.


  31. Abou-Zeid, A.; Meiners-Hagen, K.; Wolf, M.:
     "Diode laser interferometry for measurement of surface topography", Congress on Metrology, Measurement & Instrument Technology, IMEKO TC 14 ; 9th IMEKO Symposium "Metrology for Quality Control in Production; Surface Metrology for Quality Assurance", Egypt, Giza/Cairo, 24-29, September (2001)


  32. Meiners-Hagen, K.; Abou-Zeid, A.:
     "Diode Laser Interferometer for Surface Profilometry with Nanometer Resolution on Lateral Dimensions in the Centimeter Range", SPIE Proceedings Vol. 4399, "Optical Measurement Systems for Industrial Inspection II: Applications in Production Engineering" p. 42 (2001)


  33. Burgarth, V.; Abou-Zeid, A.:
     "Wavelength stabilised diode laser interferometer for calibration of length measuring instruments", Proc. of the 2nd Int. Conf. euspen, Turin, Italy, A. Balsamo et. al. (Eds.), Vol. 1, p. 338 - 341 (2001)


  34. Bodermann, B.; Burgarth, V.; Abou-Zeid, A.:
     "Modulation-free stabilised diode laser for interferometry using doppler-reduced Rb transitions", Proc. of the 2nd Int. Conf. euspen, Turin, Italy, A. Balsamo et. al. (Eds.), Vol. 1, p. 294 (2001)


  35. Meiners-Hagen, K; Wolf, M; Abou-Zeid, A.:
     "Measuring Micrometer Steps With Nanometer Resolution" Proc. of the 2nd Int. Conf. euspen, Turin, Italy, A. Balsamo et. al. (Eds.), Vol. 1, p. 226 (2001)


  36. Zarka, A.; Abou-Zeid, A.; Chagniot, D.; Chartier, J.-M.; Cliche, J.-F.; Cip, O.; Edwards, C.S.; Imkenberg, F.; Jedlicka, P.; Kabel, B.; Lassila, A.; Lazar, J.; Millerioux, J.; Merimaa, M.; Simonsen, H.; Tetru, M.; Wallerand, J.-P.:
    "International Comparison of Eight Semiconductor Lasers Stabilized on 127I2 at 633 nm", Metrologia, 37, 4, p. 329 (2000)


  37. Abou-Zeid, A.; Wolf, M.:
     "Profilometry Using a Diode Laser Interferometer with Three Wavelengths", Proc. of the 1st euspen Topical Conf. on Fabrication and Metrology in Nanotechnology, Copenhagen, Denmark, L. De Chiffre and K. Carneiro (Eds.), Vol. 1, p. 137 (2000)


  38. Abou-Zeid, A.; Burgarth, V.:
     "Study of Length References for Calibration Devices", Proc. of 1st euspen Topical Conf. on Fabrication and Metrology in Nanotechnology, Copenhagen, Denmark, L. De Chiffre and K. Carneiro (Eds.) Vol. 2, p. 358 (2000)


  39. Abou-Zeid, A.; Bethge, H.; Bodermann,B.; Keppert,M.:
     "Miniaturised Diode Laser Refractometer Useful for High Precision Interferometric Length Measurement", Proc. of 1st euspen Topical Conf. on Fabrication and Metrology in Nanotechnology , Copenhagen, Denmark, L. De Chiffre and K. Carneiro (Eds.). Vol. 2, p. 365 (2000)


  40. Wolf, M.; Abou-Zeid, A.; Löbau, J.:
     "Multiwavelength Diode Laser Interferometer for Measurements of surface Topography", X. International Colloqium on Surfaces and Tutorials, Chemnitz, Germany, p. 465 (2000)


  41. Abou-Zeid, A.; Löbau, J.; Wolf, M.:
     "Profilometry using a Diode Laser Interferometer with Two Wavelengths", Proc. of the 1st Int. euspen Conference, Pat McKeown a.o.(Ed.), Bremen, Germany, 2, p. 239 (1999)


  42. Abou-Zeid, A.; Bethge, H.; Flügge, J.; Bäume, P.:
     "Diode Laser Refractometer for Dimensional Metrology", Proc. of the 1st Int. euspen Conference, Pat McKeown a.o.(Ed.), Bremen, Germany, 2, p. 395 (1999)


  43. Imkenberg, F.; Kickelhain, J.; Schulz, O.; Abou-Zeid, A.:
     "Determination of the Relative and Absolute Humidity in Compost Piles by Differential Spectroscopy Using Tunable Diode Lasers", Research in and Implementation of Process Technology, Rhombos Verlag, Weimar, Germany, p. 77 (1999)


  44. Imkenberg, F.; Nicolaus, A.; Abou-Zeid, A.:
     "Tunable 633 nm Diode Lasers and Application for Phase Stepping Interferometry", Proc. of the 1st Inter. euspen Conference, Pat McKeown a.o.(Ed.), Bremen, Germany, 2, p. 769 (1999)


  45. Abou-Zeid, A.; Wiese, P.:
     "Interferometer with a Wavelength-tuned Diode Laser for Surface Profilometry", Meas. Sci. Technol. 9, 1105 (1998)


  46. Abou-Zeid, A.; Wiese, P.:
     "Diodenlaserrefraktometer für die Längenmeßtechnik", Technisches Messen 65, 3, 91 (1998)


  47. Abou-Zeid, A.; Löbau, J.; Wiese, P.:
     "Profilometry Using a Diode Laser Interferometer with Wavelength Modulation and Lock-in Technique", Proc. of the 6th IMEKO-Symposium, p. 775 (1998)


  48. Imkenberg, F.; Schulz, O.; Kickelhain, J.; Abou-Zeid, A.:
     "Bestimmung der relativen und absoluten Feuchte in Kompostmieten mittels Lasertechnologie", Initiativen zum Umweltschutz, Bd. 10: Bioabfallverwertung, Deutsche Bundesstiftung Umwelt, Zeller Verlag, Osnabrück, p. 135 (1998)


  49. Abou-Zeid, A.; Imkenberg, F.:
     "Abstimmbare und frequenzstabilisierte 633 nm-Diodenlaser für die interferometrische Längenmeßtechnik", Technisches Messen, 65, S. 147-154 (1998)


  50. Abou-Zeid, A.; Imkenberg, F.:
     "Frequency Stabilization of a 633 nm Diode Laser Using Frequency Modulation Spectroscopy on Iodine for Dimensional Metrology", Proc. of the 6th ISMQC IMEKO Symposium: Metrology for Quality Control in Production, P.H. Osanna,  D. Prostrednik, N.M. Durakbasa (Ed.) Vienna, Austria,, p. 769 (1998)


  51. Imkenberg, F.; Lazar, J.; Abou-Zeid, A.:
     "Comparison of Different Methods of Locking a Tunable Diode Laser to Iodine Transitions for Applications in Interferometry", Conference on Lasers and Electro-Optics (CLEO). OSA Technical Digest Series, 6, p. 133 (1998)


  52. Petru, F.; Cip, O.; Sparrer, G.; Herrmann, K.:
    Methoden zur Messung der Brechzahl der Luft. Jemná mechanika a optika, Prag (1998) 11/12, 348-356


  53. Zarka, A.; Abou-Zeid, A.; Imkenberg, F.; Simonsen, H.:
     First Laser Diode Head Meeting, BIPM-Report, BIPM, Paris, France, 12 p. (1997)


  54. Abou-Zeid, A.; Imkenberg, F.:
     "Absolute Frequency Locking of a Tunable Diode Laser for Application in Interferometry", Technical Digest: Novel Lasers, Devices and Applications, Munich, Germany, p. 46 (1997)


  55. Abou-Zeid, A.; Vogel, A.:
     "Nichtlinearitäten in den Strahlungs- und Spannungs-Kennlinien indexgeführter Diodenlaser", PTB-Bericht F-29,Braunschweig, S. 33 (1997)


  56. Abou-Zeid, A.; Vogel, A.:
     "Modulation-free Frequency Stabilization of a Diode Laser Based on the Faraday Effect", Technical Digest: Novel Lasers, Devices and Applications, München, p.21, 1997


  57. Abou-Zeid, A.; Bechstein, H.; Enghave, C.:
     "A multi channel diode laser interferometer for displacement measurements on CMM´s.", Annals of CIRP, Vol. 45, 1, S. 489 - 492 (1996)


  58. Abou-Zeid, A., Imkenberg, F.:
     "633 nm Laser diodes for interferometry", Proc. of the Int. Measurement Confederation, Ed. L. de Chiffre, TU Denmark, p. 119 (1996)


  59. Abou-Zeid, A., Wiese, P.:
     "Profilometry with a Diode Laser Interferometer and a digital Signal Processor", Proc.of the Int. Measurement Confederation, Ed. L. de Chiffre, TU Denmark, p. 71 (1996)


  60. Abou-Zeid, A.; Bader, N.:
     "A Transportable Lambdameter for Calibration of Laser Wavelengths", Laser-Optoelektronik in der Technik, Springer Verlag, München, S. 460 - 463 (1995)


  61. Abou-Zeid, A.; Vogel, A.:
     "Modulation-free Frequency Stabilization of a Diode Laser: Zeeman-Efekt", Laser-Optoelektronik in der Technik, Springer Verlag, München, S. 26 - 29 (1995)


  62. Abou-Zeid, A.; Wiese, P.:
     "Signalauswertung eines wellenlängenmodulierten Diodenlaserinterferometers", Laser-Optoelektronik in der Technik, Springer Verlag, München, S. 456 - 459 (1995)


  63. Abou-Zeid, A.; Bader, N.; Prellinger, G.:
     "A Transportable l Meter for the Calibration of the Emitted Wavelength of Diode Lasers." PTB-Mitt., 105, 2, 90 (1995)


  64. Abou-Zeid, A.; Wiese, P.:
     "Kohärenzlängen von Diodenlasern" F&M Feinwerktechnik Mikrotechnik Meßtechnik, 103, 6, 300 - 303 (1995)


  65. Abou-Zeid, A.; Bechstein, H.; Enghave, C.:
     "Real-time Position and Form Measurements on CMMs by Means of Multi-function Laser Interferometry Based on Laser Diodes", BCR Informtion Report Applied Metrology, EUR 15930EN, Brüssel, 103 p., 1995


  66. Abou-Zeid, A.; Wiese, P.:
     "A Novel Surface Topography Sensor Based on a Non-Counting Diode Laser Interferometer: Non Linearity and Scanning Frequency", VDI Berichte 1118, VDI-Verlag, Düsseldorf, p. 69, (1994)


  67. Abou-Zeid, A.; Wiese, P.:
     "Diodenlaserinterferometer für Oberflächenmessungen",
    DFG-Schwerpunktprogramm " Sensorsysteme", PTB-Bericht F-12, Braunschweig, S. 197 - 209 (1994)


  68. Abou-Zeid, A.; Bader, N.; Prellinger, G.:
     "Rb-stabilized Diode Laser for Dimensional Metrology", Ultra-Precision in Manufacturing Engineering, M. Weck und H. Kunzmann (Hrsg.), Franz Rhiem Verlag, Duisburg, p. 283 (1994)


  69. Herrmann, K.; Sparrer, G.; Pohlenz, F.; Hannemann, J.:
    Investigation and Calibration of Laser Measuring Systems. VDI Berichte 1118 vom IMEKO- Symposium Laser Metrology for Precision Measurement and Inspection in Industry, March 21-22 1994, Heidelberg


  70. Sparrer, G.:
    Meßanordnungen zur Kalibrierung kompletter Laserinterferometer. Microtecnic 3/1994, 27-32 (Englisch-Übersetzung liegt vor)
  71. Herrmann, K.; Sparrer, G.; Pohlenz, F.; Hannemann, J.:
    Arbeiten des Labors Längenmeßsysteme der PTB zur Kalibrierung von Lasermeßsystemen und positionsempfindlichen Sensoren. PTB-Bericht F-19, Gaslaser-Applikationen für Längen- und Brechzahlmessungen, Juni 1994, 55-67


  72. Sparrer, G.:
    Meßanordnungen zur Kalibrierung von kompletten Laserinterferometern für Längenmessungen. PTB-Bericht F-19, Gaslaser-Applikationen für Längen- und Brechzahlmessungen, Juni 1994, 68-79


  73. Sparrer, G.; Herrmann, K.; Petru, F.; Lazar, J.:
    Erste Ergebnisse der Erprobung eines Zweifarben-Refraktometers. PTB-Bericht F-19, Gaslaser-Applikationen für Längen- und Brechzahlmessungen, Juni 1994, 99-106


  74. Abou-Zeid, A.; Wiese, P.:
     "Ein nicht zählendes Diodenlaserinterferometer zur Untersuchung von Oberflächentopographien", Laser in der Technik, Springer Verlag, München, S. 236 -239 (1993)


  75. Abou-Zeid, A.; Bader, N.; Prellinger, G.:
     "Absolute Frequenzstabilität eines auf Rb stabilisierten Diodenlasers", Laser in der Technik, Springer Verlag, München, S. 240 - 243 (1993)


  76. Abou-Zeid, A.; Wiese, P.:
     "A Novel Surface Topography Sensor in the nm Range Based on a Non-Counting Diode Laser Interferometer", N. Ikawa, S. Slumada, T. Moriowaki, A. Mc Keown, R. C. Spragg (Hrsg.) Butterworth & Heinemann Verlag, p. 518 (1993)


  77. Sparrer, G.:
    Anordnung zum direkten Vergleich und zur Kalibrierung von Laserinterferometern. Offenlegungsschrift vom 08.04.93, G 01 B 9/02 DE 4208189 A 1


  78. Sparrer, G.:
    Anordnung zum direkten Vergleich sowie zur Kalibrierung von Laserinterferometern und zur Präzisionsmessung mit einem Laserinterferometer. Offenlegungsschrift vom 18.01.93, G 01 B 9/02 DE 4236993 A 1


  79. Sparrer, G.:
    Kalibrierung von kompletten Laser-Wegmeßsystemen. Jemna mechanika a optika, Prag (1993) 7/8, 147-151, 171


  80. Sparrer, G.:
    Kalibrierung von kompletten Laserinterferometern für Längenmessungen. Proceedings der Tagung MessComb ´93, Wiesbaden 1993


  81. Herrmann, K.; Sparrer, G.; Hannemann, J.:
    Arbeiten des Labors Längenmeßsysteme der PTB zur Kalibrierung von Lasermeßsystemen und positionsempfindlichen Sensoren. Jemna mechanika a optika, Prag (1993) 11, 257-260.


  82. Abou-Zeid, A.:
    "Diodenlaser in der industriellen Meßtechnik", Technische Mitteilungen 85, S. 34 -43 (1992)


  83. Herrmann, K.; Sparrer, G.; Wilkening. G.:
    Testing of Laser Measuring Systems, especially Laser Interferometers, in the PTB - State of the Art and Perspectives. PTB-Bericht F-15, Calibration and Testing of Laser Interferometers, Euromet- Workshop 11./12.3.1992 in Berlin, 30-41


  84. Abou-Zeid, A.; Prellinger, G.:
    "Stabilisierung der Luftwellenlänge eines Diodenlasers durch Vergleich mit einer Maßverkörperung", Laser-Optoelektronik in der Technik, Springer Verlag, München, S. 79 - 83 (1991)


  85. Abou-Zeid, A.:
    "Diode Lasers for Industrial Length Measurements", Progress in Precision Engineering, Springer Verlag, Berlin, p. 50 (1991)


  86. Abou-Zeid, A.; Bader, N.; Prellinger, G.:
    "Verfahren zur Verminderung der Meßunsicherheit bei der Bestimmung der Laserwellenlänge mit einem Lambda-Meter", Laser-Optoelektronik in der Technik, Springer Verlag, München, S. 75 - 78 (1991)


  87. Abou-Zeid, A.; Erdtmann, B.; Kunzmann, H.; Prellinger, G.:
     "Wellenlängenstabilisierung eines Diodenlasers durch Vergleich mit einer Maßverkörperung", PTB Mitteilungen 101, 333(1991)


  88. Abou-Zeid, A.:
    Untersuchungen der Abstrahlungseigenschaften temperaturstabilisierter Laserdioden, Abschlußbericht des PTB-Vorhabens Nr. 1603, 91 S. (1990)


  89. Abou-Zeid, A.:
    "Spektrale Alterung kommerzieller GaAlAs-Diodenlaser Laser-Optoelektronik in der Technik", Springer Verlag, München, S. 141 - 144 (1989)


  90. Abou-Zeid, A.:
    "Einsatz kommerzieller Diodenlaser für die Meßtechnik", Mikrowellentechnik & Optoelektronik, Network GmbH (Hrsg), Hagenburg, S. 1 - 6 (1989)


  91. Abou-Zeid, A.; Kunzmann, H.:
     "Stabilization of GaAlAs Diode Lasers for Interferometric Length Mearesurements", Liber Amicorum for Prof. J. Peters, Katholieke Univ. Leuven, Belgian, p. ?? - ?? (1989)


  92. Abou-Zeid, A.; Wolf, M.:
    "Welche Diodenlaser eignen sich für die Meßtechnik?" Technica, 20, 25 (1988)


  93. Abou-Zeid, A.:
    "Diode Lasers for Interferometry", J. of Precision Engineering, 11 (3), 139 (1988)


  94. Abou-Zeid, A.; Zervos, P.:
    "Längenmessungen bewegter Materialien nach dem Referenz-Dopplerverfahren mit Diodenlasern", Technisches Messen, 55, 383 (1988)


  95. Abou-Zeid, A.:
    "Verfahren zur Frequenzstabilisierung eines Diodenlasers" Deutsches Patent, Nr. 3706635 1988, Patentanmelder: Fa. Spindler & Hoyer am 9. Februar 1987.


  96. Abou-Zeid, A.; Wolf, M.:
    "Prüfung kommerzieller Diodenlaser zum Einsatz in der Meßtechnik", Laser, Optoelektronik und Mikrowellen, Springer Verlag, München, S. 238 - 241 (1987)


  97. Abou-Zeid, A.:
     "Frequenzstabilisierung eines Diodenlasers unabhängig von seinem Injektionsstrom, Laser", Optoelectronik und Mikrowellen, Springer Verlag, München, S. 36 -38 (1987)


  98. Abou-Zeid, A.:
     "Miniaturisierte Laserdiodenmodule zum Einsatz in der Längenmeßtechnik", Mikrowellentechnik & Optoelektronik, Network GmbH (Hrsg), Hagenburg, S. 1 -15 (1986)


  99. Abou-Zeid, A.:
     "Einsatzmöglichkeiten von Diodenlaser-Interferometern in der Fertigungsmeßtechnik", VDI-Verlag, VDI-Berichte Nr. 659, Düsseldorf, S.79 - 8? (1986)


  100. Abou-Zeid, A.:
     "Längenmessung mit einem Laserdiodeninterferometer", Laser & Optoelektronik, Waidelich (Hrsg.), Springer Verlag, München, S. 172 - 175 (1985)


  101. Abou-Zeid, A.; Leppelt, G.:
     "Temperaturstabilisierter, abstimmbarer und modulierbarer Diodenlaser", PTB-Bericht: PTB-Me-67, 31 S. (1985)


  102. Abou-Zeid, A.:
     "Emissionswellenlänge kommerzieller Laserdioden als Funktion ihrer Betriebsparameter", PTB-Mitt. 94, 163 (1984)


  103. Abou-Zeid, A.:
     "Spektrale Untersuchungen an kommerziellen GaAlAs-Laserdioden",
    PTB-Bericht: PTB-Me-56, 21 S. (1984)


  104. Abou-Zeid, A.:
     "Frequenzstabilisierung von Halbleiterdioden für die Längenmeßtechnik", Abschlußbericht des PTB-Vorhabens, Nr. 1613, 112 S. (1982)



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