Nachrichten aus dem Jahresbericht 2003

Grundlagen der Metrologie

Untersuchung lateral strukturierter Grenzflächen mit diffuser Röntgenstreuung

Absolut messendes Interferometer mit einer antireflexbeschichteten Laserdiode

Absolut messendes Interferometer mit einer nicht antireflexbeschichteten Laserdiode

Die nächste Generation des Kösters-Interferometers

Minimierung des Einflusses der Fehljustage beim Präzisionsinterferometer

Konstruktion und Fertigung eines Röntgen-Monochromators für die Silicium-Orientierungsapparatur

Konstruktion und Fertigung einer Germaniumdetektorabschirmung

Fertigung von konischen Tieflochbohrungen mit extrem großen Aspektverhältnissen

Metrologie für die Wirtschaft

Untersuchung von Unregelmäßigkeiten auf 2D-Lateralnormalen

Metrologische Charakterisierung von Schichtdickenstandards für die Röntgenreflektometrie

Kalibrierung von Silizium-Lateralnormalen für Tastschnittgeräte

Einsatz eines neuen Lateralnormals zur Kalibrierung von Tastschnittgeräten

Nano-Raunormale für Rastersondenmikroskope

Winkel-Umschlagverfahren mit einem zweiachsigen Piezo-Kippsystem zur Untersuchung von elektronischen Autokollimatoren

Bestimmung des thermischen Ausdehnungskoeffizienten eines Kohlefaserstabes

Stellvertreterkalibrierverfahren für zweidimensionale Prüfkörper

Rückführbare Inline-Messtechnik im Karosseriebau

Integration eines selbstnachführenden Laserinterferometers in ein Koordinatenmessgerät

Messung von Mikrobohrungen mit dem opto-taktilen Taster

Messung von Bauteildimensionen mit industrieller Computertomographie (CT)

Genauigkeitsteigerung von kommerziellen Laserinterferometern für Längenmessungen durch Rekalibrierung

Entwicklung eines Absorptionshygrometers

Transfernormale für Konturmessmaschinen

Herstellung von PVDF-Membran-Hydrophonen

Metrologie für die Gesellschaft

Konstruktion und Fertigung einer 60Kobalt-Bestrahlungsanlage

Internationale Angelegenheiten

Workshop „Traceability in Large Scale Metrology“ - gemeinsam veranstaltet von PTB, NPL und NIST

Seminar CIMM - PTB über dynamische Messungen in Beijing (China)

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© Physikalisch-Technische Bundesanstalt Erstellt am: 18.03.2004, letzte Änderung: 26.05.2004, Name