zum Seiteninhalt

Physikalisch-Technische Bundesanstalt

PublikationenReihenPTB-BerichteVerzeichnis der PTB-Berichte > PTB-Berichte Fertigungsmesstechnik (F)
PTB-Berichte Fertigungsmesstechnik (F)

Publikations Einzelansicht

PTB-F-47

Entwicklung eines kombinierten Nahfeldmikroskopie- und -spektroskopiesystems : Bericht über das BMBF-Vorhaben 13N7643/6

Autor(en): Claudio Dal Savio, Thorsten Dziomba, Dmitri Kazantsev und Hans-Ulrich Danzebrink
Herausgeber: Physikalisch-Technische Bundesanstalt
Report Typ: PTB-Report
Jahr: 2003
Seite(n): 100 S., 66 tw. farbige Abb.
Verschiedenes: 17,00 EUR
ISBN: ISBN 3-86509-064-8
ISSN: ISSN 0179-0609
Zusammenfassung: Im Zentrum dieses Projekts steht das innovative Konzept eines kompakten Sensor-Objektivs, das gleichzeitig als konventionelles Mikrospobjektiv und als SFM- und nachfeld-optischer Mikroskopkopf verwendet werden kann. Dieses Sensor-Objektiv basiert auf einem Spielobjektiv, welches direkt in den Revolver eines optischen Standardmikroskops eingeschraubt werden kann. Zusätzlich enthält es eine kompakte Rasterkraftmikroskop-(SFM)- Sensoreinheit. Das damit realisierbare Prinzip eines austauschbaren Messkopfes ist die Grundlage aller Entwicklungen in diesem Vorhaben. Das gilt sowohl für den Raum- als auch für den Tieftempearturaufbau. In allen Messsystemen lassen sich wahlweise Standardobjektive und unsere Sensor-Objektive einsetzen. Es wurden drei Prototypen des Sensor-Objektivs in verschiedenen Versionen aufgebaut und getestet.
Bemerkung: Entwicklung eines kombinierten Nahfeldmikroskopie- und -spektroskopiesystems : Bericht über das BMBF-Vorhaben 13N7643/6 ; (PTB-Bericht PTB-F-47)

Zurück zur Listen Ansicht


© Physikalisch-Technische Bundesanstalt, letzte Änderung: 2011-11-17, WEB-Redaktion Seite drucken DruckansichtPDF-Export PDF