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Nanometrologie

Aufgaben

Im Themenbereich Nanometrologie werden Arbeiten zur messtechnischen Rückführung der Eigenschaften von Nanoobjekten sowie zum Verständnis von messtechnisch relevanten Prozessen auf der Nanoskala durchgeführt. Nanoobjekte sind durch Abmessungen im nanoskaligen Bereich definiert, d. h. von etwa 1 nm bis 100 nm in wenigstens einer Dimension. Da viele funktionale Eigenschaften von Nanoobjekten kritisch von ihren Abmessungen abhängen und diese somit für nanotechnologische Anwendungen zu kontrollieren sind, kommt der dimensionellen Charakterisierung von Nanoobjekten eine besondere Bedeutung zu. Die Arbeitsbereiche sind:

  1. Schaffung der wissenschaftlichen Grundlagen zum Verständnis und zur Beschreibung von messtechnisch relevanten Prozessen auf der Nanoskala. Verknüpfung der Resultate verschiedener Messverfahren zum besseren Verständnis der Messungen. Nutzung dieser Erkenntnisse für neue und optimierte messtechnische Anwendungen in der Nanotechnologie
  2. Sicherstellung der metrologischen Rückführbarkeit von Messergebnissen verschiedener Messverfahren, die zur Untersuchung der Eigenschaften von ungeordneten Nanomaterialien und Nanopartikeln eingesetzt werden
  3. Sicherstellung der metrologischen Rückführbarkeit von Messergebnissen an geordneten Nanostrukturen und ultrapräzisen Oberflächen
  4. Sicherstellung der metrologischen Rückführbarkeit materialspezifischer Messergebnisse an Nanoobjekten und Nanostrukturen
  5. Herstellung von Nanostrukturen und Nanomaterialien für metrologische Anwendungen
  6. Anwendungen von Nanotechnologie für die Metrologie.