Erstes Licht am EUV-Strahlrohr der Metrology Light Source
Die Bedeutung des elektromagnetischen Wellenlängenbereiches um 13,5 nm (EUV) resultiert aus dem geplanten Einsatz von EUV-Technologie für die zukünftige Fertigung von Halbleiterchips Die Charakterisierung von optischen Komponenten im EUV ist daher seit vielen Jahren ein Arbeitsschwerpunkt im
PTB-Labor an der Synchrotronstrahlungsanlage BESSY II. Mit ...
Im Rahmen des Programms
Werkstoffinnovationen für Industrie und Gesellschaft - WING des Bundesministeriums für Bildung und Forschung (BMBF) für FuE-Projekte zum Thema „ThermoPower - Strom aus Wärme mit thermoelektrischen Generatoren“ wird die
AG 7.41 „Hochtemperaturtechnologie“ der PTB demnächst mit dem Fraunhofer-Institut für Physikalische Messtechnik...
Das
International X-ray Observatory (IXO), ein gemeinsames Projekt von ESA, NASA und JAXA, soll das größte jemals gebaute Röntgenteleskop werden mit einer effektiven Fläche von mehr als 2,5 m² bei 1,25 keV, einer Fokallänge von 20 m und einer Winkelauflösung unter 5“. Wegen des erforderlichen streifenden Strahlungseinfalls muss die Spiegelfläche etwa 1300 m² groß ...
Erstmals wurde ein Röntgendetektor sowohl an der PTB-eigenen Metrology Light Source (MLS) als auch im PTB-Labor bei BESSY II vollständig charakterisiert und kalibriert. Bei dem vom Max-Planck-Institut Halbleiterlabor (MPI HLL) entwickelten und hergestellten Detektor für das eROSITA Röntgenteleskop handelt es sich um einen von der Rückseite beleuchteten pnCCD-Chip mit einer ...
At the soft
x-ray Free-electron LASer in Hamburg FLASH, for the first time, a so-called Two-photon Above-Threshold (ATI) ionization process in an inner electron shell was detected. The corresponding electron spectroscopy results are discussed in a
recent issue of Physical Review Letter and relate to former results of
ion spectroscopy on Xe atoms performed at ultrahigh irradiance in the extreme-ultraviolet (EUV).
The present experiments were performed within the framework of an international cooperation of PTB’s department
X-ray Metrology using Synchrotron Radiation and the development of photon...
At the 2010
European conference on X-Ray Spectrometry (EXRS), which took place from June 20 to 25 in Figueira da Foz (Portugal),..
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