Fachabteilungen > Abt. 5 Fertigungsmesstechnik > 5.2 Dimensionelle Nanometrologie > 5.24 Modellierung Rastermikroskopie > Forschungsthemen
Modellierung Rastermikroskopie
Arbeitsgruppe 5.24
Forschungsthemen
- Monte Carlo Methoden zur Simulation des Bildkontrastes im REM
- Neuentwicklung eines modularen Monte Carlo Simulationsprogrammes
- Verfahren zur Tastspitzenrekonstruktion in der Rastersondenmikroskopie
- Modellierung der Sonde-Proben-Wechselwirkung in der Rastersondenmikroskopie
- REM- und AFM-Methoden zur quantitativen Charakterisierung von Nanopartikeln
© Physikalisch-Technische Bundesanstalt, letzte Änderung: 2010-02-12,
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