Änderung der Fachbereichsstruktur
Die Struktur des Fachbereichs hat sich mit dem Jahreswechsel 2013 verändert und wird hier in Kürze abgebildet sein.
Neue Webseiten
www.nanoscale.de
Im nun abgeschlossenen Projekt Co-Nanomet des 7. Europäischen Rahmenprogramms (FW7) sind Grundlagen für eine erfolgreiche europäische Nanometrologie erarbeitet worden. Die Dokumente:
- Introductory Guide to Nanometrology
- Nanometrology Discussion Papers 2011
- Critical Dimensions, Scanning Probe Techniques and Thin Film Metrology
und weitere sind über den Server des Projektleiters (euspen) verfügbar.
www.euspen.eu/nanometrology
Rückführbare Messtechniken für Oberflächenkenngrößen bilden die Basis für eine begleitende Qualitätssicherung in Forschung, Entwicklung und Produktion. Insbesondere für die Mikrosystemtechnik und die Nanotechnologie ist ferner eine starke Verknüpfung von dimensionellen mit anderen physikalischen und chemischen Eigenschaften kennzeichnend.
Der Fachbereich Oberflächenmesstechnik sieht es als sein Ziel an, für die Messung an Oberflächen der Mikrosystemtechnik, der Nanotechnologie und der allgemeinen Messtechnik (Rauheits-, Härte- und Schichtdickenmesstechnik, etc.) Messgeräte und -verfahren zu entwickeln und weiter zu verbessern, um kleinere Messunsicherheiten sicher zu erreichen. Dies beinhaltet für die Weitergabe dimensioneller Größen an DAkkS und Industrie auch die Entwicklung und Kalibrierung von Normalen.
Der Fachbereich beteiligt sich an der Neubestimmung der Avogadrokonstante und ist in eine Reihe von nationalen und internationalen Forschungsprojekten eingebunden.
Leitung | Dr. rer. nat. Ludger Koenders Tel.: 0531 592-5100 E-Mail: ludger.koenders@ptb.de | |
Sekretariat | Kathrin Wolff Tel.: 0531 592-5101 Fax: 0531 592-5105 E-Mail: kathrin.wolff@ptb.de | |
Anschrift | Physikalisch-Technische Bundesanstalt Fachbereich 5.1 Bundesallee 100 38116 Braunschweig |
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