Physikalisch-Technische Bundesanstalt

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 Untersuchungen an mikrooptischen Komponenten

Die zur Verfügung stehende messtechnische Ausrüstung zur Bestimmung spektraler Transmissions- und Reflexionscharakteristiken von makroskopischen Proben kann in günstigen Fällen für die Untersuchung spezieller mikrooptischer Komponenten verwendet werden [1].

Abb. 1 zeigt beispielhaft den spektralen Reflexionsgrad eines mehrere Millimeter großen dreiecksperiodisch strukturierten photonischen Kristalls (PC) [2] (Messungen im Rahmen einer Kooperation mit der Arbeitsgruppe Boller der Universität Twente) für den Wellenlängenbereich >1800 nm bis 2550 nm. Die dargestellten Reflexionsspektren wurden mit dem goniometrischen Referenzmessplatz der Arbeitsgruppe aufgenommen. Sie zeigen für den Azimut von 330° (bezogen auf eine Symmetrieachse des PC) die winkelabhängige Verschiebung resonanzartiger Strukturen, aus deren energetischer Lage durch Vergleich mit rechnerischer Modellierung auf die zugrunde liegende Bandstruktur des PC geschlossen werden kann ([2]).

Abb.: Gerichteter spektraler Reflexionsgrad eines dreiecksperiodisch strukturierten photonischen Kristalls in Abhängigkeit der Wellenlänge und des Einstrahlungswinkels