
- Kontakt
Erforschung und Entwicklung mikroskopischer Messverfahren und geeigneter Standards für die rückgeführte dimensionelle Messung an Mikro- und Nanostrukturen.
Hauptanwendungen sind Messungen und Kalibrierungen von Strukturen auf Photomasken für die Halbleiterindustrie sowie Kalibrierungen von Strukturbreitennormalen und von Gitterstrukturen. Neues Anwendungsgebiet ist die Charakterisierung von Nanopartikeln.
UV-Mikroskopie zur Kalibrierung von Strukturbreiten
Normale für die quantitative Mikroskopie
Kalibrierung von Gitterkonstanten mit optischer Beugung
Charakterisierung stochastisch-nanostrukturierter Polymeroberflächen
Rasterelektronenmikroskopie zur Charakterisierung von Mikro- und Nanostrukturen
Nanopartikelmessung
| Arbeitsgruppenleiter | Dr. Egbert Buhr Tel.: 0531 592-4200 Fax: 0531 592-4205 E-Mail: | |
| Anschrift | Physikalisch-Technische Bundesanstalt Arbeitsgruppe 4.22 Bundesallee 100 38116 Braunschweig |
Druckansicht,