Logo of the Physikalisch-Technische Bundesanstalt

Optical sub-wavelength and nanometrology

References
default
T. Käseberg, T. Siefke, S. Kroker, B. Bodermann
default
T. Siefke, B. Bodermann, U. Zeitner, S. Burger, J. Meyer, T. Käseberg, T. Käseberg, W. Dickmann, J. Dickmann, C. B. Rojas Hurtado, S. Kroker
default
W. Wu, H. S. Wasisto, J. D. Prades, S. Kroker, T. Dziomba, T. Weimann, P. Hinze, B. Bodermann, L. Weber, A. Waag
default
W. Wu, J. Grundmann, P. Hinze, T. Weimann, B. Bodermann, S. Kroker, H. S. Wasisto, A. Waag
default
T. Siefke, W. Dickmann, T. Weichelt, M. Steinert, J. Dickmann, C. B. Rojas Hurtado, B. Bodermann, S. Kroker
default
W. Wu, J. D. Prades, S. Kroker, B. Bodermann, B. Bodermann, T. Weimann, P. Hinze, F.-N. Stapelfeld, L. Weber, H. S. Wasisto
default
B. Bodermann, G. Ehret, J. Endres, M. Wurm
default
B. Bodermann, G. Ehret, J. Endres, M. Wurm
Surface Topography: Metrology and Properties 4(2), 024014-1 - 024014-13 ( 2016)

Online only

default
D. Nies, S. Buetefisch, D. Naparty, M. Wurm, O. Belai, D. Shapiro, V. Nesterov
Spie Optics + Photonics 2016, San Diego, USA, 28, August - 01, September, 2016
Optical trapping and optical micromanipulation XIII; Proceedings of SPIE Volume 9922 (2016) , page 99222L-1 - 99222L-6
default
W. Wu, F.-N. Stapelfeld, T. Weimann, P. Hinze, B. Bodermann, S. Kroker, H. S. Wasisto, A. Waag, T. Dziomba