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Bild- und Wellenoptik

Fachbereich 4.2

Aufgaben

Es gibt drei Aufgabenschwerpunkte im Fachbereich:

Form- und Wellenfrontmetrologie
Messung der Form optisch glatter Oberflächen und optischer Wellenfronten mit Unsicherheiten in der Größenordnung von Nanometern und Sub-Nanometern. Hinzu kommen Messaufgaben zur optischen Charakterisierung von optischen Komponenten und Materialien, u.a. Polarimetrie und Refraktometrie.

Optische Nanometrologie
Messung der Größe von Oberflächenstrukturen im µm- und Sub-µm-Bereich. Hierbei werden sowohl Lichtmikroskopie als auch Streulichtverfahren vom sichtbaren bis in den tiefen ultravioletten Spektralbereich eingesetzt.
Zusätzliche Aufgabe ist die Opens internal link in current windowGrößenmessung von Nanopartikeln mit der Rasterelektronenmikroskopie, die in Kooperation mit Fachbereich 5.2 Dimensionelle Nanometrologie bearbeitet wird.

Reflexion und Transmission
Messung der gerichteten Reflexion und Transmission (spektraler Reflexions- und Transmissionsgrad) sowie von diffusen spektralen Reflexionskennzahlen in verschiedenen Geometrien mit Wellenlängen vom ultravioletten bis infraroten Spektralbereich.

Für alle Aufgabenschwerpunkte werden Grundlagenuntersuchungen durchgeführt, Messverfahren entwickelt und Messungen und Kalibrierungen für Industrie und Wissenschaft ausgeführt. Forschungsprojekte werden oft in Zusammenarbeit mit der Industrie durchgeführt.

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