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Physikalisch-Technische Bundesanstalt

FachabteilungenAbt. 5 Fertigungsmesstechnik5.2 Dimensionelle Nanometrologie > 5.24 Modellierung Rastermikroskopie
Modellierung Rastermikroskopie
Arbeitsgruppe 5.24

Aufgaben

  • Entwicklung von Methoden zur Modellierung des Signalkontrastes hoch auflösender mikroskopischer Messverfahren wie REM und AFM
  • Entwicklung eines modularen Monte Carlo-Simulationsprogrammes zur Modellierung der physikalischen Sonde-Proben-Wechselwirkung und der Abbildung im REM
  • Entwicklung und Anwendung von Verfahren zur Tastspitzenrekonstruktion und zur Modellierung der Sonde-Proben-Wechselwirkung bei AFM
  • Modellierung und Anwendung von REM- und AFM-Messverfahren zur quantitativen Charakterisierung von Nanopartikeln

Kontakt

Arbeitsgruppenleiter

Dr. Carl Georg Frase
Tel.: 0531 592-5186
Fax: 0531 592-5205
Email: carl.g.frase@ptb.de

Sekretariat

Christina Müller
Tel.: 0531 592-5201
Fax: 0531 592-5205
Email: christina.mueller@ptb.de

Anschrift

Physikalisch-Technische Bundesanstalt
Arbeitsgruppe 5.24
Bundesallee 100
38116 Braunschweig


© Physikalisch-Technische Bundesanstalt, letzte Änderung: 2010-02-12,  Seite drucken DruckansichtPDF-Export PDF